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W7801B PathWave WaferPro WGFMU 측정
WGFMU를 사용한 반도체 디바이스와 회로의 웨이퍼 레벨 저주파수 노이즈 측정을 자동화할 수 있는 유연한 오픈 테스트 실행 플랫폼
WGFMU에 대한 턴키 측정 드라이버 및 측정 루틴을 사용하여 자동화된 웨이퍼 레벨 저주파수 노이즈 측정을 실행합니다.
주요 특징
W7801B PathWave WaferPro WGFMU 측정의 특징:
- WaferPro Express 측정 플랫폼과의 매끄러운 통합
- 고급 데이터 표시 및 분석, 바이어스 전류 대비 노이즈 데이터 비교 및 모델링
- 모든 주요 웨이퍼 프로빙 시스템의 자동화된 제어
- 플리커 노이즈 특성화를 위한 다중 바이어싱 구조 내장
- 키사이트 디바이스 모델링 소프트웨어와 호환되는 측정된 데이터
- RTN에 대한 Ton 및 Toff 분석
W7801B PathWave WaferPro Express WGFMU 측정 번들은 B1530A WGFMU(Waveform Generator/Fast Measurement Unit)와 함께 B1500A 반도체 디바이스 분석기를 사용해서 웨이퍼에서 자동화된 랜덤 텔레그래프 노이즈(RTN) 측정을 낮은 비용으로 수행합니다. 이 번들은 웨이퍼 프로버 제어를 포함하여 RTN 측정 및 데이터 분석 효율을 개선할 수 있습니다.
역량확대
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