新一代人工智慧(AI)驅動著資料中心對更高頻寬與更低延遲的空前需求。
我們與產業領導者合作,針對不斷演進的1.6T與3.2T資料傳輸速率制定標準,並提供及推薦測試解決方案。

探索是德科技的解決方案如何在開發週期的每個階段至製造環節提供助力,透過節省測試時間並避免耗費高昂成本的重新設計,為您創造價值。

                                                                                                                                                                                                                                                                                                                 

800G / 1.6T 設計與模擬

1.6T 設計與模擬

1.6 Tb/s及更高資料傳輸速率將PAM4訊號傳輸推向物理極限。克服高速串列設計中的挑戰通常需耗時數月。透過整合式通道與電磁模擬,提升基礎 效率。 透過PathWave 進階 系統,僅需數分鐘即可運用通道模擬器與 IBIS-AMI 模型精準模擬包含抖動、均衡、時鐘與資料復原等複雜訊號鏈路。是德科技首創的電-光-電 (E-O-E) 解決方案,讓您能在指定位元誤差率目標下模擬設計,實現端到端光鏈路分析。

是德科技的IxVerify 虛擬化乙太網路設計驗證解決方案,在降低專用與特殊硬體成本的同時,提升了靈活性。

800G與1.6T驗證測試

要實現 800 Gb/s 和 1.6 Tb/s 的鏈路容量,您必須根據現有基礎設施的成本、功耗、空間及向下相容性需求進行取捨。 是德科技研發的即時光收發器測試解決方案,提供最高頻寬與靈活性,可對 800G 和 1.6T 鏈路進行可靠且深入的分析。支援高階調變方案的 M8199B 任意波形產生器,結合最精準的UXR Infiniium GHz 示波器,具備最低噪聲底,助您驗證設備真實性能。

測試背板、纜線、連接器、中介層、晶片組及印刷電路板等物理層互連元件已非易事。是德科技的物理層測試系統(PLTS)軟體與可擴充向量網路分析儀 您以53 GHz。我們能協助確保您的設計信號完整性滿足1.6T及更高頻率網路的需求。

800G 1.6T 參數測試 - 新興技術

800G / 1.6T 參數測試

光子積體電路(PIC)使次世代網路得以實現更高傳輸容量,並顯著改善功耗與可製造性。您需要進行晶圓級光電參數測試,包括電學層壓電阻與電容測量,以及光學衰減與響應度測量,以表徵PIC材料與結構品質。是德科技的光子晶圓級測試解決方案,包含全新N4372E 110 GHz 光波元件分析儀、
可協助您表徵光子積體電路與光學元件。

800G 符合性測試

800G 標準(如 IEEE 802.3 及 OIF‑CEI‑112G / -224G 電氣標準)持續演進。我們不斷更新是德科技的測試解決方案,以跟進標準的發展。我們的解決方案能協助您在標準定案前驗證新的測試方法與規範。

針對 100、200、400 及 800 Gb/s 標準,您需要易於操作的自動化測試應用程式,無需深入理解相關標準。我們能協助您將 PAM4 裝置的特性分析時間從數小時縮短至數分鐘。

800G 製造測試

在收發器製造領域,隨著資料傳輸速率不斷提升,如何降低產品成本的挑戰正變得前所未有的艱鉅。

需要高度精準且高效能的測試系統。

是德科技的PAM4測量解耦方案,可協助您優化硬體使用效率,並透過四通道並行測試實現波形同步擷取與分析。時鐘模組或整合式時鐘資料復原功能,提供最緊湊的佈局設計。

優化的自動縮放性能、眼圖調校、快速眼圖、更快的發射器色散與眼圖閉合四元測試(TDECQ),進一步提升輸出效能。

多通道功率計與光衰減器支援快速並行測量,適用於多裝置與多通道測試。

為實現對光學元件光譜與偏振依賴響應的最有效分析,是德科技提供波長掃描軟體引擎,支援運用高效能可調諧雷射光源、光功率計、偏振控制器以及光電探測器靈敏度測量用光源/量測單元進行測量。

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