무엇을 찾고 있습니까?
1.6T로 가는 길
800G, 1.6T 및 그 이상 지원
차세대 인공지능(AI)은 데이터 센터에서 전례 없는 고대역폭 및 저지연 시간 요구를 촉진합니다.
저희는 업계 선두업체와 협력하여 1.6T 및 3.2T 데이터 속도에 대한 표준을 개발하고, 발전하는 기술에 맞춰 테스트 솔루션을 제공하고 권장합니다.
키사이트 솔루션이 제조를 포함한 개발 주기의 모든 단계에서 어떻게 도움이 되는지 알아보십시오. 테스트 시간을 절약하고 값비싼 재설계를 방지하는 솔루션을 통해 가능합니다.
1.6T 설계 및 시뮬레이션
1.6Tb/s 이상의 데이터 전송 속도는 PAM4 신호를 물리적 한계까지 밀어붙입니다. 고속 직렬 설계에서 발생하는 이러한 과제를 극복하는 데는 일반적으로 몇 달이 걸립니다. 통합 채널 및 전자기 시뮬레이션을 통해 필수적인 설계 효율성을 확보하십시오. PathWave Advanced Design System의 채널 시뮬레이터 및 IBIS-AMI 모델을 사용하여 지터, 이퀄라이제이션, 클럭 및 데이터 복구를 포함한 복잡한 신호 링크를 단 몇 분 만에 정확하게 시뮬레이션하십시오. 키사이트의 업계 최초 전기-광학-전기(E-O-E) 솔루션은 주어진 비트 오류율 목표 내에서 설계를 시뮬레이션하여 광학 링크를 종단 간 분석할 수 있도록 합니다.
키사이트의 IxVerify는 전용 및 특수 하드웨어 비용을 절감하면서 유연성을 높이는 가상화된 이더넷 설계 검증 솔루션을 제공합니다.
800G 및 1.6T 검증 테스트
800Gb/s 및 1.6Tb/s 링크 용량을 달성하려면 기존 인프라의 비용, 전력 소비, 공간 및 하위 호환성 요구 사항에 따라 절충점을 찾아야 합니다. 키사이트의 R&D 실시간 광 트랜시버 테스트 솔루션은 800G 및 1.6T 링크의 안정적이고 심층적인 분석을 위한 최고의 대역폭과 유연성을 제공합니다. 고차 변조 방식을 지원하는 M8199B 임의 파형 발생기와 최저 노이즈 플로를 가진 가장 정확한 UXR Infiniium 110GHz 오실로스코프를 결합하여 디바이스의 실제 성능을 검증할 수 있습니다.
백플레인, 케이블, 커넥터, 인터포저, 칩셋 및 인쇄 회로 기판과 같은 물리 계층 인터커넥트를 테스트하는 것은 더 이상 간단한 일이 아닙니다. 키사이트의 물리 계층 테스트 시스템(PLTS) 소프트웨어와 확장 가능한 벡터 네트워크 분석기를 통해 53GHz에서 최대 32개 채널을 테스트할 수 있습니다. 키사이트는 고객의 설계 신호 무결성이 1.6T 및 그 이상의 네트워크 요구 사항을 충족하도록 지원할 수 있습니다.
800G / 1.6T 파라메트릭 테스트
포토닉 집적 회로(PIC)는 차세대 네트워크가 더 높은 용량을 제공하고 전력 소비 및 제조 가능성을 크게 개선할 수 있도록 합니다. PIC 재료 및 구조 품질을 특성화하려면 면 저항 및 정전 용량의 전기적 측정과 감쇠 및 응답성의 광학적 측정을 포함하는 광전자 웨이퍼 레벨 파라메트릭 테스트가 필요합니다. 새로운 N4372E 110GHz 광파 부품 분석기를 포함한 키사이트의 포토닉 온웨이퍼 테스트 솔루션은
PIC 및 광학 디바이스를 특성화하는 데 도움이 될 수 있습니다.
800G 적합성 테스트
800G 표준은 IEEE 802.3 및 OIF‑CEI‑112G / -224G 전기 표준과 같이 계속해서 발전하고 있습니다. 키사이트는 표준 개발을 추적하기 위해 테스트 솔루션을 지속적으로 업데이트합니다. 당사의 솔루션은 표준이 완성되기 전에 새로운 테스트 방법과 사양을 검증하는 데 도움을 줍니다.
100, 200, 400, 800Gb/s 표준의 경우, 표준에 대한 심층적인 이해가 필요 없는 사용하기 쉬운 자동화된 테스트 애플리케이션이 필요합니다. 당사는 PAM4 디바이스의 특성화 시간을 몇 시간에서 몇 분으로 단축하는 데 도움을 드릴 수 있습니다.
800G 제조 테스트
트랜시버 제조에서 데이터 전송 속도가 증가하는 동시에 제품 비용을 절감해야 하는 과제는 그 어느 때보다 어려워지고 있습니다.
고정밀 및 고효율 테스트 시스템이 필요합니다.
키사이트의 PAM4 측정 분리 솔루션은 4개 채널에서 병렬로 하드웨어 사용 및 테스트 처리량을 최적화하여 동시 파형 수집 및 분석을 지원합니다. 클럭 모듈 또는 통합 클럭 데이터 복구는 가능한 가장 작은 풋프린트를 제공합니다.
향상된 자동 스케일 성능, 아이 튜닝, 래피드 아이, 더 빠른 송신기 분산 및 아이 클로저 4차 (TDECQ) 테스트는 출력을 더욱 개선합니다.
멀티포트 전력계 및 광 감쇠기는 다중 장치 및 다중 레인 테스트를 위한 빠른 병렬 측정을 지원합니다.
광학 부품의 스펙트럼 및 편광 의존 응답을 가장 효율적으로 분석하기 위해 키사이트는 고성능 튜너블 레이저 소스, 광 파워 미터, 편광 컨트롤러 및 광검출기 응답성 측정을 위한 소스/측정 장치를 사용하여 측정을 지원하는 람다 스캔 소프트웨어 엔진을 제공합니다.
관련 제품
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"키사이트는 인텔이 최초로 시장에 출시한 224Gbps-PAM4-LR 트랜시버 기술을 검증할 수 있도록 장비 제공에 중요한 역할을 했습니다."
INTEL Peng Mike Li 박사
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키사이트 덕분에 저희는 고객에게 적시에, 목표에 맞춰, 그리고 비용 효율적으로 솔루션을 제공할 수 있다고 확신합니다.
엔지니어링 부사장, 광 모듈 제조업체
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“키사이트 장비와 키사이트가 제공하는 고급 기능이 없었다면, 저희는 차세대 광학 부품을 개발할 방법이 없었을 것입니다.”
사업 개발 부사장, 광학 부품 제조업체
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“키사이트만이 우리를 위한 완벽한 솔루션을 가지고 있습니다.”
제품 라인 관리 이사, 클라우드 및 엣지 솔루션 제공업체
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