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25개 이상의 X-Series 애플리케이션을 사용하여 무선, 항공우주/방위, EMI 및 위상 잡음 전반에 걸쳐 신호를 분석, 복조 및 문제 해결하십시오.
Keysight Learn은 솔루션, 블로그, 이벤트 등을 포함하여 관심 주제에 대한 몰입형 콘텐츠를 제공합니다.
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키사이트는 모듈형 디지털 통신 분석기인 DCA-X 시리)와 고정형 구성 샘플링 오실로스코프인 DCA-M 시리즈 및 클록 복구 장치를 제공합니다.
고정밀 주기 파형 분석을 위한 DCA-X 모듈형 샘플링 오실로스코프를 살펴보세요.
제조 검증에 필요한 소형 신호 분석을 가능하게 하는 DCA-M 고정 구성 모델을 살펴보세요
고속 디지털 분석을 위한 신뢰할 수 있는 동기화를 지원하는 DCA-M 클록 복구 장치를 살펴보십시오.
키사이트 DCA-X 시리즈 모듈형 샘플링 오실로스코프는 아이 다이어그램 분석을 위한 정밀하고 고대역폭의 광학 및 전기 측정을 위한 유연한 플랫폼을 제공합니다. DCA-X 샘플링 오실로스코프는 자동화된 테스트 소프트웨어와 호환되어 IEEE 802.3 이더넷 및 OIF-CEI와 같은 표준을 준수하도록 보장합니다. 키사이트 DCA-X 모듈을 사용하면 현재의 검증 요구 사항에 맞춰 샘플링 오실로스코프를 구축하고, 향후 필요 시 모듈을 업그레이드할 수 있습니다. 광학, 전기 및 TDR(Time Domain Reflectometry)/TDT(Time Domain Transmission) 측정 및 분석을 아우르는 다양한 플러그인 모듈을 포함하여 필요한 모듈로 메인프레임을 구성하고, 다양한 대역폭, 필터링 및 채널 옵션을 선택할 수 있습니다.
33 GHz에서 120 GHz에 이르는 광대역 및 전기 대역폭으로 고속 디지털 통신 신호를 캡처하고 분석합니다.
완전한 모듈형 벤치탑 플랫폼을 통해 필요에 맞게 오실로스코프를 맞춤 설정하고 새로운 표준 및 기술이 등장함에 따라 쉽게 업그레이드하여 투자를 미래에 대비할 수 있습니다.
수십 년간 축적된 키사이트의 전문 지식은 복잡한 표준을 테스트 계획으로 전환하여 장치가 표준 및 상호 운용성 요구 사항을 충족하도록 보장합니다.
케이블, 광섬유, 트레이스 및 부품을 특성화하여 신호 무결성에 영향을 미치는 결함, 임피던스 불일치 및 불규칙성을 식별하고 위치를 파악합니다.
키사이트 SX2 클래스 고정 구성 샘플링 오실로스코프에는 DCA-M 시리즈가 포함됩니다. 고정 구성 샘플링 오실로스코프는 콤팩트한 폼 팩터로 비용 최적화된 광학 및 전기 측정을 제공하며, 제조 테스트에 이상적으로 적합합니다. 이 오실로스코프는 최대 60GHz 광학 및 50GHz 전기 대역폭으로 모듈형 샘플링 오실로스코프와 동일한 정밀 측정을 제공합니다. 고정 구성 샘플링 오실로스코프는 자동화 소프트웨어와 함께 사용될 때 완벽한 제조 테스트 솔루션을 형성하여 테스트 처리량을 최적화하고 디바이스 상호 운용성 및 신뢰성을 보장합니다. 키사이트 고정 구성 샘플링 오실로스코프는 간소화된 테스트 설정을 통해 광 트랜시버 테스트를 효율적으로 확장하여 최대 효율을 달성하도록 돕습니다.
키사이트 SX1 클래스 클록 복구 장치에는 DCA-M 전기 및 광 클록 데이터 복구(CDR) 시리즈가 포함됩니다. 클록 복구 장치는 데이터 신호에서 타이밍을 추출하여 고속 광학 및 전기 측정의 정확도를 향상시킵니다. 디바이스의 고속 신호 무결성 분석 품질을 향상시키고 지터를 줄이려면 정밀한 클록 신호가 필요합니다. IEEE 802.3 이더넷 및 OIF-CEI 표준은 정확한 측정을 보장하기 위해 규격 준수 테스트 중에 외부 클록 복구를 요구합니다. 이러한 종류의 디지털 통신 장치에 대한 규격 준수 테스트를 수행할 계획이라면 이 클록 복구 장치를 선택하십시오.
키사이트 DCA-X 시리즈 모듈형 샘플링 오실로스코프는 아이 다이어그램 분석을 위한 정밀하고 고대역폭의 광학 및 전기 측정을 위한 유연한 플랫폼을 제공합니다. DCA-X 샘플링 오실로스코프는 자동화된 테스트 소프트웨어와 호환되어 IEEE 802.3 이더넷 및 OIF-CEI와 같은 표준을 준수하도록 보장합니다. 키사이트 DCA-X 모듈을 사용하면 현재의 검증 요구 사항에 맞춰 샘플링 오실로스코프를 구축하고, 향후 필요 시 모듈을 업그레이드할 수 있습니다. 광학, 전기 및 TDR(Time Domain Reflectometry)/TDT(Time Domain Transmission) 측정 및 분석을 아우르는 다양한 플러그인 모듈을 포함하여 필요한 모듈로 메인프레임을 구성하고, 다양한 대역폭, 필터링 및 채널 옵션을 선택할 수 있습니다.
33 GHz에서 120 GHz에 이르는 광대역 및 전기 대역폭으로 고속 디지털 통신 신호를 캡처하고 분석합니다.
완전한 모듈형 벤치탑 플랫폼을 통해 필요에 맞게 오실로스코프를 맞춤 설정하고 새로운 표준 및 기술이 등장함에 따라 쉽게 업그레이드하여 투자를 미래에 대비할 수 있습니다.
수십 년간 축적된 키사이트의 전문 지식은 복잡한 표준을 테스트 계획으로 전환하여 장치가 표준 및 상호 운용성 요구 사항을 충족하도록 보장합니다.
케이블, 광섬유, 트레이스 및 부품을 특성화하여 신호 무결성에 영향을 미치는 결함, 임피던스 불일치 및 불규칙성을 식별하고 위치를 파악합니다.
키사이트 SX2 클래스 고정 구성 샘플링 오실로스코프에는 DCA-M 시리즈가 포함됩니다. 고정 구성 샘플링 오실로스코프는 콤팩트한 폼 팩터로 비용 최적화된 광학 및 전기 측정을 제공하며, 제조 테스트에 이상적으로 적합합니다. 이 오실로스코프는 최대 60GHz 광학 및 50GHz 전기 대역폭으로 모듈형 샘플링 오실로스코프와 동일한 정밀 측정을 제공합니다. 고정 구성 샘플링 오실로스코프는 자동화 소프트웨어와 함께 사용될 때 완벽한 제조 테스트 솔루션을 형성하여 테스트 처리량을 최적화하고 디바이스 상호 운용성 및 신뢰성을 보장합니다. 키사이트 고정 구성 샘플링 오실로스코프는 간소화된 테스트 설정을 통해 광 트랜시버 테스트를 효율적으로 확장하여 최대 효율을 달성하도록 돕습니다.
키사이트 SX1 클래스 클록 복구 장치에는 DCA-M 전기 및 광 클록 데이터 복구(CDR) 시리즈가 포함됩니다. 클록 복구 장치는 데이터 신호에서 타이밍을 추출하여 고속 광학 및 전기 측정의 정확도를 향상시킵니다. 디바이스의 고속 신호 무결성 분석 품질을 향상시키고 지터를 줄이려면 정밀한 클록 신호가 필요합니다. IEEE 802.3 이더넷 및 OIF-CEI 표준은 정확한 측정을 보장하기 위해 규격 준수 테스트 중에 외부 클록 복구를 요구합니다. 이러한 종류의 디지털 통신 장치에 대한 규격 준수 테스트를 수행할 계획이라면 이 클록 복구 장치를 선택하십시오.
유선 통신
샘플링 오실로스코프를 사용하여 1.6T 광 송신기의 IEEE 및 OIF-CEI 표준 적합성을 테스트합니다.
유선 통신
BERT, 샘플링 오실로스코프, 광학 및 광 계측기를 사용하여 1.6T 광 수신기의 적합성을 테스트합니다.
유선 통신
효율적인 송신기 분산 및 아이 클로저 4차(TDECQ) 측정을 위해 샘플링 오실로스코프를 사용하여 1.6T 광 트랜시버를 생산 규모로 테스트합니다.
유선 통신
800G 광 트랜시버에 대한 TDECQ 측정을 분석하고 제조 테스트를 자동화합니다.
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
KeysightCare 구독자로서 향상된 서비스를 경험하고 전담 기술 지원 및 더 많은 혜택을 받으세요.
테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
샘플링 오실로스코프(등가 시간 오실로스코프)는 반복적인 고속 신호를 여러 주기에 걸쳐 샘플링하여 재구성함으로써, 초광대역, 낮은 고유 지터 및 정밀한 신호 무결성 측정을 가능하게 합니다.
이 방식은 각 트리거 이벤트 발생 시 신호의 일부를 캡처한 다음, 여러 사이클에 걸쳐 이러한 샘플을 결합하여 전체 파형을 재구성합니다. 이를 통해 초고속 실시간 디지타이저 없이도 고속 전기 및 광 신호를 정확하게 분석할 수 있습니다.
샘플링 오실로스코프는 레인당 최대 224Gb/s 및 그 이상의 속도를 지원하는 PAM4 기반 이더넷 및 광 인터커넥트 시스템에서 아이 다이어그램, 지터, 노이즈, 그리고 TDECQ와 같은 송신기 품질 지표를 측정하는 데 널리 사용됩니다.
최대의 측정 정확도, 대역폭 및 낮은 고유 지터가 요구되는 반복적인 고속 신호를 측정할 때는 샘플링 오실로스코프를 사용하십시오. 이 장비는 엔지니어들이 PAM4 광학 및 전기 인터페이스에서 지터, 광학 TDECQ, OMA, 아이 클로저 및 신호대잡음비(SNR)를 정량화해야 하는 물리 계층 검증에 가장 적합합니다.
실시간 오실로스코프는 글리치, 버스트 오류, 프로토콜 수준 동작 등 비반복적인 현상을 발생 즉시 포착하는 데 더 적합합니다. 샘플링 오실로스코프와 실시간 오실로스코프는 서로 보완적인 워크플로를 지원합니다. 즉, 정밀한 신호 무결성 특성 분석과 실시간 디버깅 및 결함 격리 작업을 수행할 수 있습니다.
샘플링 오실로스코프는 고속의 반복적인 광학 및 전기 신호를 측정할 수 있지만, 비반복적이거나 순간적인 현상은 포착할 수 없습니다.
주로 다음을 분석하는 데 사용됩니다:
주요 측정 항목은 다음과 같습니다.
파형 재구성은 반복적인 샘플링에 의존하기 때문에, 일회성 이벤트나 시스템 수준의 동작을 관찰하려면 별도의 실시간 오실로스코프나 프로토콜 분석기가 필요합니다.
샘플링 오실로스코프는 매우 높은 유효 대역폭과 피코초 미만의 타이밍 정확도를 제공하여, 고속 링크에서 지터와 신호 왜곡을 정밀하게 측정할 수 있게 해줍니다.
이들의 아키텍처는 다음과 같은 기능을 제공합니다:
이러한 성능은 고속 링크를 검증할 때 매우 중요한데, 이때 미세한 타이밍 또는 진폭 오류가 비트 오류율(BER), 전방 오류 정정(FEC) 및 전체 시스템 여유도에 직접적인 영향을 미칠 수 있기 때문입니다.
정확한 측정을 통해 IEEE 802.3 이더넷 및 광 인터페이스 사양과 같은 표준을 준수할 수 있습니다.
지원되는 데이터 전송 속도, 채널 유형, 지터 성능 및 애플리케이션 워크플로 요구 사항을 고려하여 샘플링 오실로스코프를 선택하십시오.
주요 선정 기준은 다음과 같습니다:
사용 사례 예시:
적합한 샘플링 오실로스코프를 사용하면 설계, 규정 준수 및 생산 워크플로우 전반에 걸쳐 표준에 부합하는 일관된 검증 작업을 수행할 수 있습니다.