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Modulare Abtastoszilloskope
Entdecken Sie die modularen Abtastoszilloskope der DCA-X-Serie für hochpräzise periodische Wellenformanalysen.
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Festkonfigurations-Abtastoszilloskope
Entdecken Sie die Modelle mit fester Konfiguration von DCA-M, die eine kompakte Signalanalyse für die Fertigungsvalidierung ermöglichen.
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Taktwiederherstellung
Entdecken Sie die DCA-M-Taktrückgewinnungseinheiten, die eine sichere Synchronisation für die digitale Hochgeschwindigkeitsanalyse ermöglichen.
Modulare Abtastoszilloskope
Die modularen Abtastoszilloskope der Keysight DCA-X-Serie bieten eine flexible Plattform für präzise optische und elektrische Messungen mit hoher Bandbreite zur Augendiagrammanalyse. Die DCA-X-Abtastoszilloskope sind mit automatisierter Testsoftware kompatibel und gewährleisten so die Gerätekonformität mit Standards wie IEEE 802.3 Ethernet und OIF-CEI. Mit unseren DCA-X-Modulen können Sie Ihr Abtastoszilloskop für aktuelle Validierungsanforderungen konfigurieren und es durch Module für zukünftige Innovationen aufrüsten. Konfigurieren Sie das Mainframe-System mit den benötigten Modulen – darunter eine Vielzahl von Steckmodulen für optische, elektrische und TDR/TDT-Messungen und -Analysen mit verschiedenen Bandbreiten-, Filter- und Kanaloptionen.
Extrem hohe Bandbreite
Erfassung und Analyse von digitalen Hochgeschwindigkeitskommunikationssignalen mit optischen und elektrischen Bandbreiten von 33 GHz bis 120 GHz.
Skalierbare Architektur
Eine vollständig modulare Tischplattform ermöglicht es Ihnen, Ihren Umfang an Ihre Bedürfnisse anzupassen und ihn bei Bedarf durch neue Standards und Technologien problemlos aufzurüsten, wodurch Ihre Investition zukunftssicher wird.
Automatisierte Testsoftware
Dank jahrzehntelanger Erfahrung von Keysight werden komplexe Standards in Testpläne umgesetzt, damit Sie sicherstellen können, dass Ihre Geräte die Standards und Interoperabilitätsanforderungen erfüllen.
Zeitbereichsmessungen
Charakterisierung von Kabeln, optischen Fasern, Leiterbahnen und Komponenten zur Identifizierung und Lokalisierung von Fehlern, Impedanzfehlanpassungen und Unregelmäßigkeiten, die die Signalintegrität beeinträchtigen.
Oszilloskope mit fester Konfiguration und Abtastung
Die Keysight SX2-Serie umfasst die Abtastoszilloskope der DCA-M-Serie. Diese Abtastoszilloskope bieten kostenoptimierte optische und elektrische Messungen in kompakter Bauform und eignen sich ideal für Fertigungstests. Sie liefern die gleiche Messgenauigkeit wie unsere modularen Abtastoszilloskope mit Bandbreiten von bis zu 60 GHz (optisch) und 50 GHz (elektrisch). In Kombination mit Automatisierungssoftware bilden sie eine umfassende Lösung für Fertigungstests, um den Testdurchsatz zu optimieren und die Interoperabilität und Zuverlässigkeit der Geräte sicherzustellen. Mit den Keysight-Abtastoszilloskopen können Sie optische Transceiver-Tests effizient skalieren – dank eines optimierten Testaufbaus für maximale Effizienz.
Taktwiederherstellung
Die Taktrückgewinnungseinheiten der Keysight SX1-Klasse umfassen die DCA-M-Serie für elektrische und optische Taktdatenrückgewinnung (CDR). Taktrückgewinnungseinheiten verbessern die Genauigkeit von optischen und elektrischen Hochgeschwindigkeitsmessungen, indem sie das Timing aus den Datensignalen extrahieren. Ein präzises Taktsignal ist erforderlich, um Jitter zu reduzieren und die Qualität der Hochgeschwindigkeits-Signalintegritätsanalyse Ihrer Geräte zu verbessern. Die Standards IEEE 802.3 Ethernet und OIF-CEI schreiben eine externe Taktrückgewinnung während der Konformitätsprüfung vor, um genaue Messungen zu gewährleisten. Wählen Sie diese Taktrückgewinnungseinheiten, wenn Sie Konformitätsprüfungen an diesen Klassen digitaler Kommunikationsgeräte durchführen möchten.
Finden Sie in wenigen Minuten das passende modulare Abtastoszilloskop für Ihre Bedürfnisse.
Finden Sie kompatible Software und Zubehör für Ihr Abtastoszilloskop
Wählen Sie aus einer breiten Palette an Analyse- und Compliance-Software oder Zubehör wie Steckverbindern, Kabeln, Kalibrierkits und mehr.
Anwendungsfälle für Abtastoszilloskope erkunden
Abtastoszilloskope unterstützen ein breites Spektrum an Messungen in verschiedenen Branchen – entdecken Sie sie alle.
Kabelgebundene Kommunikation
Wie man testet 1.6T Konformität des optischen Senders
Prüfung der Konformität mit den IEEE- und OIF-CEI-Standards für 1.6T Optische Sender mit Abtastoszilloskopen.
Kabelgebundene Kommunikation
Wie man testet 1.6T Konformität des optischen Empfängers
Prüfen 1.6T Konformität des optischen Empfängers mit BERTs, Abtastoszilloskopen sowie photonischen und optischen Instrumenten.
Kabelgebundene Kommunikation
Prüfen 1.6T Optische Transceiver in Serienfertigung mit Abtastoszilloskopen für effiziente Messungen der Senderdispersion und der quaternären Augenschlussfrequenz (TDECQ).
Kabelgebundene Kommunikation
Optimierung der Fertigungstests für optische 800G-Transceiver
TDECQ-Messungen analysieren und Fertigungstests für optische 800G-Transceiver automatisieren.
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
Laden Sie die Keysight-Software herunter oder aktualisieren Sie Ihre Software auf die neueste Version.
Häufig gestellte Fragen
Ein Abtastoszilloskop (Äquivalentzeitoszilloskop) rekonstruiert sich wiederholende Hochgeschwindigkeitssignale durch Abtastung über mehrere Zyklen hinweg und ermöglicht so eine extrem hohe Bandbreite, geringen intrinsischen Jitter und präzise Signalintegritätsmessungen.
Es erfasst bei jedem Triggerereignis einen kleinen Teil des Signals und kombiniert diese Abtastwerte über viele Zyklen hinweg, um die vollständige Wellenform zu rekonstruieren. Dieses Verfahren ermöglicht die präzise Analyse von elektrischen und optischen Hochgeschwindigkeitssignalen, ohne dass ultraschnelle Echtzeit-Digitalisierer erforderlich sind.
Abtastoszilloskope werden häufig zur Messung von Augendiagrammen, Jitter, Rauschen und Senderqualitätsmetriken wie TDECQ in PAM4-basierten Ethernet- und optischen Verbindungssystemen bis zu 224 Gbit/s pro Lane und darüber hinaus eingesetzt.
Verwenden Sie ein Abtastoszilloskop zur Messung von sich wiederholenden Hochgeschwindigkeitssignalen, die höchste Messgenauigkeit, Bandbreite und geringen intrinsischen Jitter erfordern. Es eignet sich besonders für die Validierung der physikalischen Schicht, wo Ingenieure Jitter, optisches TDECQ, OMA, Augenschluss und Signal-Rausch-Verhältnis in optischen und elektrischen PAM4-Schnittstellen quantifizieren müssen.
Echtzeit-Oszilloskope eignen sich besser zur Erfassung nicht-repetitiver Ereignisse wie Störungen, Burst-Fehler und Protokollverhalten in Echtzeit. Abtast- und Echtzeit-Oszilloskope unterstützen gemeinsam komplementäre Arbeitsabläufe: präzise Signalintegritätscharakterisierung sowie Echtzeit-Debugging und Fehlerisolierung.
Abtastoszilloskope messen schnelle, sich wiederholende optische und elektrische Signale, können aber nicht-wiederholende oder transiente Ereignisse nicht erfassen.
Sie werden häufig zur Analyse verwendet:
- PAM4- und NRZ-Signale in Ethernet-Standards von 10G bis 1.6T +
- Ausgänge des optischen Transceivers (Singlemode und Multimode)
- Hochgeschwindigkeits-Seriellverbindungen in Rechenzentrums- und Telekommunikationssystemen
Zu den wichtigsten Messgrößen gehören:
- Augendiagramm und Maskenkonformität
- Jitter-Zerlegung (zufälliger und deterministischer Jitter)
- quaternäre Transmitterdispersion (TDECQ)
- Signalrauschen und Amplitudenintegritätsmetriken
Da die Rekonstruktion der Wellenform auf wiederholter Abtastung beruht, ist ein separates Echtzeit-Oszilloskop oder ein Protokollanalysator erforderlich, um einmalige Ereignisse oder das Verhalten auf Systemebene zu beobachten.
Abtastoszilloskope erreichen eine sehr hohe effektive Bandbreite und eine Zeitgenauigkeit im Sub-Pikosekundenbereich, wodurch eine präzise Messung von Jitter und Signalverzerrungen in Hochgeschwindigkeitsverbindungen ermöglicht wird.
Ihre Architektur bietet:
- Sehr hohe Bandbreite zur Analyse von 64–120+ Gbaud-Signalen
- Geringer intrinsischer Jitter (im Bereich von zehn Femtosekunden) für eine genaue Jitterzerlegung
- Hohe vertikale Auflösung für eine klare Augendiagrammanalyse
Diese Leistungsfähigkeit ist bei der Validierung von Hochgeschwindigkeitsverbindungen von entscheidender Bedeutung, da bereits kleine Timing- oder Amplitudenfehler die Bitfehlerrate (BER), die Vorwärtsfehlerkorrektur (FEC) und die Gesamtsystemmarge direkt beeinflussen können.
Präzise Messungen gewährleisten die Einhaltung von Standards wie IEEE 802.3 Ethernet und Spezifikationen für optische Schnittstellen.
Wählen Sie ein Abtastoszilloskop basierend auf der unterstützten Datenrate, dem Kanaltyp, dem Jitterverhalten und den Anforderungen des Anwendungsworkflows.
Zu den wichtigsten Auswahlkriterien gehören:
- Datenrate (GBaud-Unterstützung): Gewährleistet Kompatibilität mit Standards wie 224 Gbit/s PAM4
- Kanaltyp: elektrische, optische, Singlemode- oder Multimode-Eingänge
- Eigenes Jitter- und Rauschverhalten: bestimmt die Messgenauigkeit
- Bauform: Modulare Systeme für Forschung und Entwicklung sowie Validierung vs. Kompaktsysteme für die Fertigung
Beispielhafte Anwendungsfälle:
- Modulare Abtastoszilloskope: flexible Validierung von Mehrspurverbindungen
- Kompakte, feste Konfigurationen: automatisierter Fertigungstest mit hohem Durchsatz
Ein gut abgestimmtes Abtastoszilloskop ermöglicht eine konsistente, normgerechte Validierung über Design-, Konformitäts- und Produktionsabläufe hinweg.