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Können wir Ihnen behilflich sein?
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Mit zusätzlichem Speicher und Speicherplatz können diese verbesserten NPBs die KI-Sicherheits- und Leistungsüberwachungssoftware sowie den KI-Stack von Keysight ausführen.
Erreichen Sie schnelle und präzise Tests auf Platinenebene mit robusten Inline- und Offline-ICT-Systemen, die für die moderne Fertigung entwickelt wurden.
Informieren Sie sich über kuratierte Support-Pläne, die nach Prioritäten geordnet sind, um Ihre Innovationsgeschwindigkeit aufrechtzuerhalten.
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Unsere hochdichten ATE-Netzteile beseitigen den Zielkonflikt zwischen Testdurchsatz und Präzision.
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Keysight Learn bietet umfassende Inhalte zu interessanten Themen, darunter Lösungen, Blogs, Veranstaltungen und mehr.
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Entdecken Sie Dienstleistungen, die jeden Schritt Ihrer Innovationsreise beschleunigen.
Keysight bietet modulare digitale Kommunikationsanalysatoren (DCA-X-Serie) sowie Abtastoszilloskope und Taktrückgewinnungseinheiten mit fester Konfiguration der DCA-M-Serie an.
Entdecken Sie die modularen Abtastoszilloskope der DCA-X-Serie für hochpräzise periodische Wellenformanalysen.
Entdecken Sie die Modelle mit fester Konfiguration von DCA-M, die eine kompakte Signalanalyse für die Fertigungsvalidierung ermöglichen.
Entdecken Sie die DCA-M-Taktrückgewinnungseinheiten, die eine sichere Synchronisation für die digitale Hochgeschwindigkeitsanalyse ermöglichen.
Die modularen Abtastoszilloskope der Keysight DCA-X-Serie bieten eine flexible Plattform für präzise optische und elektrische Messungen mit hoher Bandbreite zur Augendiagrammanalyse. Die DCA-X-Abtastoszilloskope sind mit automatisierter Testsoftware kompatibel und gewährleisten so die Gerätekonformität mit Standards wie IEEE 802.3 Ethernet und OIF-CEI. Mit unseren DCA-X-Modulen können Sie Ihr Abtastoszilloskop für aktuelle Validierungsanforderungen konfigurieren und es durch Module für zukünftige Innovationen aufrüsten. Konfigurieren Sie das Mainframe-System mit den benötigten Modulen – darunter eine Vielzahl von Steckmodulen für optische, elektrische und TDR/TDT-Messungen und -Analysen mit verschiedenen Bandbreiten-, Filter- und Kanaloptionen.
Erfassung und Analyse von digitalen Hochgeschwindigkeitskommunikationssignalen mit optischen und elektrischen Bandbreiten von 33 GHz bis 120 GHz.
Eine vollständig modulare Tischplattform ermöglicht es Ihnen, Ihren Umfang an Ihre Bedürfnisse anzupassen und ihn bei Bedarf durch neue Standards und Technologien problemlos aufzurüsten, wodurch Ihre Investition zukunftssicher wird.
Dank jahrzehntelanger Erfahrung von Keysight werden komplexe Standards in Testpläne umgesetzt, damit Sie sicherstellen können, dass Ihre Geräte die Standards und Interoperabilitätsanforderungen erfüllen.
Charakterisierung von Kabeln, optischen Fasern, Leiterbahnen und Komponenten zur Identifizierung und Lokalisierung von Fehlern, Impedanzfehlanpassungen und Unregelmäßigkeiten, die die Signalintegrität beeinträchtigen.
Die Keysight SX2-Serie umfasst die Abtastoszilloskope der DCA-M-Serie. Diese Abtastoszilloskope bieten kostenoptimierte optische und elektrische Messungen in kompakter Bauform und eignen sich ideal für Fertigungstests. Sie liefern die gleiche Messgenauigkeit wie unsere modularen Abtastoszilloskope mit Bandbreiten von bis zu 60 GHz (optisch) und 50 GHz (elektrisch). In Kombination mit Automatisierungssoftware bilden sie eine umfassende Lösung für Fertigungstests, um den Testdurchsatz zu optimieren und die Interoperabilität und Zuverlässigkeit der Geräte sicherzustellen. Mit den Keysight-Abtastoszilloskopen können Sie optische Transceiver-Tests effizient skalieren – dank eines optimierten Testaufbaus für maximale Effizienz.
Die Taktrückgewinnungseinheiten der Keysight SX1-Klasse umfassen die DCA-M-Serie für elektrische und optische Taktdatenrückgewinnung (CDR). Taktrückgewinnungseinheiten verbessern die Genauigkeit von optischen und elektrischen Hochgeschwindigkeitsmessungen, indem sie das Timing aus den Datensignalen extrahieren. Ein präzises Taktsignal ist erforderlich, um Jitter zu reduzieren und die Qualität der Hochgeschwindigkeits-Signalintegritätsanalyse Ihrer Geräte zu verbessern. Die Standards IEEE 802.3 Ethernet und OIF-CEI schreiben eine externe Taktrückgewinnung während der Konformitätsprüfung vor, um genaue Messungen zu gewährleisten. Wählen Sie diese Taktrückgewinnungseinheiten, wenn Sie Konformitätsprüfungen an diesen Klassen digitaler Kommunikationsgeräte durchführen möchten.
Die modularen Abtastoszilloskope der Keysight DCA-X-Serie bieten eine flexible Plattform für präzise optische und elektrische Messungen mit hoher Bandbreite zur Augendiagrammanalyse. Die DCA-X-Abtastoszilloskope sind mit automatisierter Testsoftware kompatibel und gewährleisten so die Gerätekonformität mit Standards wie IEEE 802.3 Ethernet und OIF-CEI. Mit unseren DCA-X-Modulen können Sie Ihr Abtastoszilloskop für aktuelle Validierungsanforderungen konfigurieren und es durch Module für zukünftige Innovationen aufrüsten. Konfigurieren Sie das Mainframe-System mit den benötigten Modulen – darunter eine Vielzahl von Steckmodulen für optische, elektrische und TDR/TDT-Messungen und -Analysen mit verschiedenen Bandbreiten-, Filter- und Kanaloptionen.
Erfassung und Analyse von digitalen Hochgeschwindigkeitskommunikationssignalen mit optischen und elektrischen Bandbreiten von 33 GHz bis 120 GHz.
Eine vollständig modulare Tischplattform ermöglicht es Ihnen, Ihren Umfang an Ihre Bedürfnisse anzupassen und ihn bei Bedarf durch neue Standards und Technologien problemlos aufzurüsten, wodurch Ihre Investition zukunftssicher wird.
Dank jahrzehntelanger Erfahrung von Keysight werden komplexe Standards in Testpläne umgesetzt, damit Sie sicherstellen können, dass Ihre Geräte die Standards und Interoperabilitätsanforderungen erfüllen.
Charakterisierung von Kabeln, optischen Fasern, Leiterbahnen und Komponenten zur Identifizierung und Lokalisierung von Fehlern, Impedanzfehlanpassungen und Unregelmäßigkeiten, die die Signalintegrität beeinträchtigen.
Die Keysight SX2-Serie umfasst die Abtastoszilloskope der DCA-M-Serie. Diese Abtastoszilloskope bieten kostenoptimierte optische und elektrische Messungen in kompakter Bauform und eignen sich ideal für Fertigungstests. Sie liefern die gleiche Messgenauigkeit wie unsere modularen Abtastoszilloskope mit Bandbreiten von bis zu 60 GHz (optisch) und 50 GHz (elektrisch). In Kombination mit Automatisierungssoftware bilden sie eine umfassende Lösung für Fertigungstests, um den Testdurchsatz zu optimieren und die Interoperabilität und Zuverlässigkeit der Geräte sicherzustellen. Mit den Keysight-Abtastoszilloskopen können Sie optische Transceiver-Tests effizient skalieren – dank eines optimierten Testaufbaus für maximale Effizienz.
Die Taktrückgewinnungseinheiten der Keysight SX1-Klasse umfassen die DCA-M-Serie für elektrische und optische Taktdatenrückgewinnung (CDR). Taktrückgewinnungseinheiten verbessern die Genauigkeit von optischen und elektrischen Hochgeschwindigkeitsmessungen, indem sie das Timing aus den Datensignalen extrahieren. Ein präzises Taktsignal ist erforderlich, um Jitter zu reduzieren und die Qualität der Hochgeschwindigkeits-Signalintegritätsanalyse Ihrer Geräte zu verbessern. Die Standards IEEE 802.3 Ethernet und OIF-CEI schreiben eine externe Taktrückgewinnung während der Konformitätsprüfung vor, um genaue Messungen zu gewährleisten. Wählen Sie diese Taktrückgewinnungseinheiten, wenn Sie Konformitätsprüfungen an diesen Klassen digitaler Kommunikationsgeräte durchführen möchten.
Kabelgebundene Kommunikation
Prüfung der Konformität mit den IEEE- und OIF-CEI-Standards für 1.6T Optische Sender mit Abtastoszilloskopen.
Kabelgebundene Kommunikation
Prüfen 1.6T Konformität des optischen Empfängers mit BERTs, Abtastoszilloskopen sowie photonischen und optischen Instrumenten.
Kabelgebundene Kommunikation
Prüfen 1.6T Optische Transceiver in Serienfertigung mit Abtastoszilloskopen für effiziente Messungen der Senderdispersion und der quaternären Augenschlussfrequenz (TDECQ).
Kabelgebundene Kommunikation
TDECQ-Messungen analysieren und Fertigungstests für optische 800G-Transceiver automatisieren.
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
Laden Sie die Keysight-Software herunter oder aktualisieren Sie Ihre Software auf die neueste Version.
Abtastoszilloskope, auch Zeitoszilloskope genannt, sind Spezialinstrumente zur Analyse periodischer Hochgeschwindigkeitssignale. Sie arbeiten, indem sie Signalformen aus einer Reihe periodischer Signalabtastwerte rekonstruieren. Dadurch ermöglichen sie Messungen mit hoher Bandbreite und hoher Auflösung bei niedrigeren Abtastraten, geringerem intrinsischen Jitter und höherer Signalintegrität als Echtzeitoszilloskope.
Dies steht im Gegensatz zu einem Echtzeit-Oszilloskop, das Signale in Echtzeit erfasst und analysiert. Echtzeit-Oszilloskope können nicht-repetitive Ereignisse und Störungen sofort anzeigen und erfassen. Der Hauptnachteil besteht darin, dass Echtzeit-Oszilloskope schnelle Analog-Digital-Wandler (ADCs) und mehr Speicher benötigen und daher höhere Kosten verursachen.
Daher verwenden Ingenieure in der digitalen Kommunikationstechnik auf der physikalischen Schicht meist Abtastoszilloskope, während Echtzeitoszilloskope für die Fehlersuche, die Dekodierung digitaler Protokolle eingesetzt werden. Abtastoszilloskope liefern zwar qualitativ hochwertigere Messwerte, sind aber weniger vielseitig als Echtzeitoszilloskope.
Aufgrund ihrer Datenerfassungsmethode werden Abtastoszilloskope primär zur Analyse schneller, sich wiederholender Signale mit präzisen Messungen hoher Signalintegrität eingesetzt. Ingenieure verwenden sie häufig zum Testen optischer und elektrischer Kommunikationssignale. Sie sind ein zentraler Bestandteil von Testaufbauten in Forschung und Entwicklung, Validierung und Fertigung für optische Transceiver, photonische integrierte Schaltungen und andere Verbindungstechnologien für Rechenzentren.
Abtastoszilloskope eignen sich hervorragend zur Messung und Analyse hochfrequenter und modulierter (PAM) Signale. Ingenieure setzen sie häufig bei der Geräteentwicklung und der Prüfung der Einhaltung von Ethernet-Standards der physikalischen Schicht für Geschwindigkeiten von 10G bis 3,2T ein. Abtastoszilloskope sind ideal für die Augendiagrammanalyse, Jitter-Tests, die Überprüfung der Maskenkonformität und die Messung der quaternären Dispersionskurve (TDECQ) – allesamt essenzielle Messverfahren in optischen und elektrischen Kommunikationssystemen.
Bei der Auswahl eines Abtastoszilloskops sind verschiedene Merkmale zu berücksichtigen, wie z. B. Bauform, Kanalanzahl, Bandbreite und Abtastrate. Im Folgenden finden Sie die wichtigsten Fragen, die Sie sich bei der Auswahl eines Oszilloskops stellen sollten:
Welches Formfaktor benötige ich für meine Anwendung?
Abtastoszilloskope sind in verschiedenen Bauformen für unterschiedliche Anwendungen erhältlich. Modulare Tischoszilloskope eignen sich beispielsweise optimal für Forschung und Entwicklung oder Validierung im Testlabor eines Ingenieurs, da ihre austauschbaren Module ein hohes Maß an Vielseitigkeit und Präzision ermöglichen. Entwickler können zwar auch Oszilloskope mit fester Konfiguration in der Forschung und Entwicklung einsetzen, verwenden sie aber häufiger in Produktions- oder Fertigungstestumgebungen, wo Skalierbarkeit und Geschwindigkeit entscheidend sind. Die kompakte Bauform, das Fehlen eines Bildschirms und die Möglichkeit, sie zu benutzerdefinierten Konfigurationen für Testoptimierungslösungen zu kombinieren, machen sie besonders nützlich für automatisierte Produktionstests.
Welche Datenrate und welchen Eingangskanaltyp hat das Oszilloskop?
Da Ingenieure Abtastoszilloskope hauptsächlich für die Analyse optischer und elektrischer Kommunikationssysteme einsetzen, legen viele Anwender mehr Wert auf die unterstützten Datenraten als auf die elektrische oder optische Bandbreite. Die Datenrate gibt an, welche digitalen Standards unterstützt werden (Beispiel: Ein Oszilloskop, das 112-GBaud-PAM4-Daten messen kann, kann auch 224-Gbit/s-Ethernet testen). Abtastoszilloskope sind in verschiedenen Ausführungen erhältlich, um unterschiedlichen Testanforderungen gerecht zu werden, unter anderem mit unterschiedlicher Anzahl optischer und elektrischer Kanäle. Bei optischen Anwendungen sollten Ingenieure prüfen, ob das Oszilloskop Multimode- oder Singlemode-Optik unterstützt.
Wie verhält sich das Oszilloskop hinsichtlich Jitter und Rauschen?
Jitter und Rauschen eines Oszilloskops beeinflussen maßgeblich die Messqualität. Die Aufgabe des Oszilloskops besteht darin, diese Faktoren im Signal möglichst transparent zu messen, ohne dabei selbst zusätzliche Probleme zu verursachen. Für die Messung von Hochgeschwindigkeits-Kommunikationssignalen eignet sich am besten ein Oszilloskop mit geringem Jitter, hohem Signal-Rausch-Verhältnis und hoher Signalintegrität.