網路研討會
當射頻測量中出現雜訊或雜散信號時，有多少來自待測設備，又有多少來自信號源？隨著待測設備性能的提升，信號源的缺陷會嚴重限制所需表徵的特性。
本次線上研討會詳解是德科技最新推出Pro XG7模擬信號發生器，聽眾將有機會了解這一全新平臺的架構和實際測量中的性能，以及如何應對相位雜訊、寬頻雜訊、雜散信號、輸出功率以及測試設置的複雜性等常見射頻測試挑戰：
區分設備特性與信號源引入的雜訊和雜散信號
了解YIG（釔鐵石榴石）和DDS（直接數字合成）架構如何協同工作以控制信號缺陷
利用高達 +22 dBm 的純淨校準功率，實現高要求的設備測試並補償測試路徑損耗
兩個獨立的射頻源集成在一個 2U 機箱內，從而減小機架空間、佈線和設置複雜性
射頻／微波研發工程師、射頻測試工程師、無線通信工程師、半導體測試工程師、系統架構師，以及從事高性能信號源與射頻測量工作的技術人員。