웨비나
고주파 측정 시 노이즈나 스패너 신호가 발생할 때, 그 중 얼마나 많은 부분이 피측정 장비에서 비롯된 것이고, 얼마나 많은 부분이 신호 발생기에서 비롯된 것일까요? 피측정 장비의 성능이 향상됨에 따라, 신호 발생기의 결함은 특성 분석에 필요한 특성을 심각하게 제한할 수 있습니다.
이번 온라인 세미나에서는 테스트테크(TestTech)가 최근 출시한 Pro XG7 아날로그 신호 발생기를 상세히 소개하며, 참가자들은 이 새로운 플랫폼의 아키텍처와 실제 측정 시의 성능을 파악할 수 있을 뿐만 아니라, 위상 잡음, 광대역 잡음, 스패너 신호, 출력 전력, 테스트 설정의 복잡성 등 일반적인 RF 테스트 과제를 어떻게 해결할 수 있는지 알아볼 수 있습니다:
장비의 특성과 신호원에서 유입되는 잡음 및 스패너 신호를 구분한다
YIG(이테르비움-철-석류석)와 DDS(직접 디지털 합성) 아키텍처가 어떻게 상호 작용하여 신호 결함을 제어하는지 알아보기
최대 +22 dBm의 순수한 교정 전력을 활용하여 까다로운 장비 테스트를 수행하고 테스트 경로 손실을 보정합니다.
두 개의 독립적인 RF 소스가 하나의 2U 섀시에 통합되어 랙 공간, 배선 및 설정의 복잡성을 줄여줍니다.
RF/마이크로파 연구개발 엔지니어, RF 테스트 엔지니어, 무선 통신 엔지니어, 반도체 테스트 엔지니어, 시스템 아키텍트, 그리고 고성능 신호 발생기 및 RF 계측 업무를 담당하는 기술자.
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