Webinaire
Lorsque du bruit ou des signaux parasites apparaissent lors d'une mesure RF, quelle part provient de l'équipement sous test et quelle part provient de la source de signal ? À mesure que les performances de l'équipement sous test s'améliorent, les défauts de la source de signal peuvent limiter considérablement les caractéristiques à caractériser.
Ce webinaire présente en détail le tout nouveau générateur de signaux analogiques Pro XG7 de Keysight Technologies. Les participants auront l'occasion de découvrir l'architecture de cette toute nouvelle plateforme et ses performances en conditions réelles de mesure, ainsi que les solutions apportées aux défis courants des tests RF, tels que le bruit de phase, le bruit à large bande, les signaux parasites, la puissance de sortie et la complexité des configurations de test :
Distinguer les caractéristiques de l'équipement du bruit et des signaux parasites provenant de la source de signal
Découvrez comment les architectures YIG (yttrium-fer-garnet) et DDS (synthèse numérique directe) fonctionnent de concert pour contrôler les défauts de signal
Utilisez une puissance d'étalonnage pure pouvant atteindre +22 dBm pour réaliser des tests d'équipements très exigeants et compenser les pertes sur le trajet de test.
Deux sources RF indépendantes sont intégrées dans un châssis 2U, ce qui permet de réduire l'encombrement dans le rack, le câblage et la complexité de la configuration.
Ingénieurs en recherche et développement dans le domaine des radiofréquences et des micro-ondes, ingénieurs en tests RF, ingénieurs en communications sans fil, ingénieurs en tests de semi-conducteurs, architectes système, ainsi que techniciens spécialisés dans les sources de signaux haute performance et les mesures RF.
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