Webinario
Cuando aparecen ruidos o señales parásitas en las mediciones de radiofrecuencia, ¿qué parte procede del equipo bajo prueba y qué parte de la fuente de señal? A medida que mejora el rendimiento del equipo bajo prueba, los defectos de la fuente de señal pueden limitar gravemente las características que se desean caracterizar.
En este seminario web se analizará en detalle el nuevo generador de señales analógicas Pro XG7 de Keysight Technologies. Los asistentes tendrán la oportunidad de conocer la arquitectura de esta nueva plataforma y su rendimiento en mediciones reales, así como de descubrir cómo abordar retos habituales en las pruebas de radiofrecuencia, tales como el ruido de fase, el ruido de banda ancha, las señales parásitas, la potencia de salida y la complejidad de las configuraciones de prueba:
Distinguir entre las características del equipo y el ruido y las señales parásitas introducidas por la fuente de señal
Descubre cómo las arquitecturas YIG (yttrio-hierro-granate) y DDS (sintesis digital directa) funcionan conjuntamente para controlar los defectos de la señal
Aprovecha una potencia de calibración pura de hasta +22 dBm para realizar pruebas de equipos con requisitos exigentes y compensar las pérdidas en la ruta de prueba.
Dos fuentes de radiofrecuencia independientes integradas en un chasis de 2U, lo que reduce el espacio necesario en el rack, el cableado y la complejidad de la configuración.
Ingenieros de I+D en radiofrecuencia y microondas, ingenieros de pruebas de radiofrecuencia, ingenieros de comunicaciones inalámbricas, ingenieros de pruebas de semiconductores, arquitectos de sistemas, así como técnicos especializados en fuentes de señal de alto rendimiento y mediciones de radiofrecuencia.
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