详解Keysight全新计量级Pro XG7信号发生器 – SG6311A

Über diese Veranstaltung

当射频测量中出现噪声或杂散信号时, 有多少来自待测设备, 又有多少来自信号源？随着待测设备性能的提升,信号源的缺陷会严重限制所需表征的特性.

本次线上研讨会详解是德科技最新推出的Pro XG7 ist eine neue Version von XG7何应对相位噪声、宽带噪声、杂散信号、输出功率以及测试设置的复杂性等常见射频测试挑战:

• 区分设备特性与信号源引入的噪声和杂散信号

• 了解YIG (钇铁石榴石) und DDS (直接数字合成)架构如何协同工作以控制信号缺陷

• 利用高达 +22 dBm

• 两个独立的射频源集成在一个 2U 机箱内, 从而减少机架空间、布线和设置复杂性