網路研討會
隨著人工智慧（AI）、雲端技術與網路應用的深入發展，高速光電互連技術的應用日益普及。若要驗證互連性能，僅靠傳統的物理層測量已遠遠不足。工程師必須驗證整個互連元件在真實環境中的數位層誤碼性能，以確保大規模部署的可靠性。
誠摯邀請您與 Keysight 產品專家一同探索驅動這些全新驗證需求的最新趨勢。您將了解下一代互連測試的四大關鍵原則、準確評估並確保系統可靠性所需的關鍵量測項目，以及全新的 Keysight 多通道功能性誤碼率測試儀 FITS 如何支援並優化數位層誤碼率（BER）與前向校正（FEC）誤碼性能的驗證。
本次研討會還將展示如何結合全新 Keysight 多通道功能性誤碼儀 FITS 與 Keysight DCA-M 採樣示波器，應用自動化通道調諧技術。您將親眼見證自動化通道調諧如何大幅提升訊號完整性，以實現最佳的 BER 與 FEC 誤碼性能驗證，同時提高測量一致性、降低測量不確定度並加速產品開發。
您將獲得：
高速數位設計工程師、訊號完整性（SI）工程師、光模組研發工程師、光通訊工程師、晶片驗證工程師、測試與量測工程師、產品驗證工程師，以及來自 AI 伺服器、資料中心、光通訊、網路設備和半導體產業的研發與技術管理人員。