網路研討會
隨著人工智慧（AI）、雲技術和網絡應用的深入發展，高速光電互連技術的應用日益普及。要驗證互連性能，僅靠傳統的物理層測量已遠遠不夠。工程師必須驗證整個互連組件在真實世界中的數字層誤碼性能，以確保大規模部署的可靠性。
誠摯邀請您與 Keysight 產品專家一同探索驅動這些全新驗證需求的最新趨勢。您將了解到下一代互連測試的四大關鍵原則、準確評估和確保系統可靠性能所需的關鍵測量項，以及全新的 Keysight 多通道功能性誤碼儀 FITS 如何支持和優化數字層誤碼率（BER）與前向糾錯（FEC）誤碼性能的驗證。
本次研討會還將展示如何結合全新的 Keysight 多通道功能性誤碼儀 FITS 與 Keysight DCA-M 採樣示波器，應用自動化通道調諧技術。親眼見證自動化通道調諧如何大幅提升信号完整性，以實現最佳的 BER 和 FEC 誤碼性能驗證，同時提高測量一致性、降低測量不確定性並加速產品開發。
您將收穫：
高速數字設計工程師、信号完整性（SI）工程師、光模塊研發工程師、光通信工程師、芯片驗證工程師、測試測量工程師、產品驗證工程師，以及來自AI服務器、數據中心、光通信、網絡設備和半導體行業的研發與技術管理人員。