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人工知能（AI）、クラウド技術、およびネットワークアプリケーションのさらなる発展に伴い、高速光電相互接続技術の応用がますます普及しています。相互接続性能を検証するには、従来の物理層での測定だけではもはや不十分です。エンジニアは、大規模展開における信頼性を確保するため、相互接続コンポーネント全体のデジタル層における誤り率性能を、実環境下で検証する必要があります。
Keysight の製品エキスパートとともに、こうした新たな検証要件を牽引する最新トレンドを探求していただければ幸いです。本セッションでは、次世代の相互接続テストにおける 4 つの重要な原則、システムの信頼性を正確に評価・確保するために必要な主要な測定項目、そして Keysight の新型マルチチャネル機能性ビットエラー率測定器「FITS」が、デジタル層のビットエラー率（BER）および前方誤り訂正（FEC）の性能検証をどのように支援・最適化するのかについてご説明します。
本セミナーでは、キーサイト社の新型マルチチャネル機能性ビットエラー率（BER）テスター「FITS」と、キーサイト社製サンプリングオシロスコープ「DCA-M」を組み合わせて、自動チャネルチューニング技術をどのように活用するかについてもご紹介します。自動チャネルチューニングが、信号の完全性を大幅に向上させ、最適なBERおよびFECの誤り性能検証を実現すると同時に、測定の一貫性を高め、測定不確かさを低減し、製品開発を加速させる様子を、ぜひご自身の目でご確認ください。
得られるもの：
高速デジタル設計エンジニア、シグナル・インテグリティ（SI）エンジニア、光モジュール研究開発エンジニア、光通信エンジニア、チップ検証エンジニア、テスト・計測エンジニア、製品検証エンジニア、およびAIサーバー、データセンター、光通信、ネットワーク機器、半導体業界の研究開発・技術管理職。
何をお探しですか？