ウェビナー
人工知能（AI）、クラウド技術、およびネットワークアプリケーションの急速な発展に伴い、高速光インターコネクト技術の適用がますます普及しています。インターコネクト性能を検証するには、従来の物理層の測定だけでは不十分です。エンジニアは、大規模展開の信頼性を確保するために、現実世界におけるデジタル層の誤り率性能全体を検証する必要があります。
これらの新しい検証ニーズに対する最新トレンドを、キーサイトの製品エキスパートと一緒に探求してみませんか。次世代インターコネクトテストの4つの主要原則、正確な評価とシステム信頼性の確保に必要な主要測定項目、および新しいキーサイト多通道機能的誤り率測定器FITSが、デジタル層のビット・エラー・レート（BER）および前方誤り訂正（FEC）誤り率性能の検証をどのようにサポートし最適化するかについてご覧いただけます。
本ウェビナーでは、新しいキーサイト多通道機能的誤り率測定器FITSとKeysight DCA-M サンプリングオシロスコープを組み合わせた、自動化チャンネル・チューニング技術も紹介します。自動化されたチャンネル・チューニングがどのように信号完全性を大幅に向上させ、最適なBERおよびFEC誤り率性能の検証を実現しつつ、測定の一貫性を高め、測定不確かさを低減し、製品開発を加速させるかを直接ご確認ください。
得られるメリット:
高速デジタル設計エンジニア、シグナルインテグリティ（SI）エンジニア、光モジュール開発エンジニア、光通信エンジニア、チップ検証エンジニア、テスト測定エンジニア、製品検証エンジニア、およびAIサーバー、データセンター、光通信、ネットワーク機器、半導体業界の研究開発・技術管理責任者。
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