웨비나
인공지능(AI), 클라우드 기술 및 네트워크 응용이 심화됨에 따라 고속 광통신 기술의 적용이 나날이 보편화되고 있습니다. 인터커넥트 성능을 검증하려면 전통적인 물리 계층 측정만으로는 턱없이 부족합니다. 엔지니어는 대규모 배포의 신뢰성을 보장하기 위해 실제 환경에서 전체 인터커넥트 컴포넌트의 디지털 계층 오류 성능을 검증해야 합니다.
키사이트 제품 전문가와 함께 이러한 새로운 검증 요구를 주도하는 최신 트렌드를 살펴보시기 바랍니다. 차세대 인터커넥트 테스트의 4가지 핵심 원칙, 정확한 평가와 시스템 신뢰성능 확보에 필요한 핵심 측정 항목, 그리고 새로운 키사이트 멀티채널 기능성 오류율 테스터(FITS)가 디지털 계층 비트 오류율(BER) 및 전방 오류 정정(FEC) 오류 성능의 검증을 어떻게 지원하고 최적화하는지 알아보실 수 있습니다.
본 웨비나에서는 또한 새로운 키사이트 멀티채널 기능성 오류율 테스터(FITS)와 키사이트 DCA-M 샘플링 오실로스코프를 결합하여 자동화된 채널 튜닝 기술을 적용하는 방법을 시연합니다. 자동화된 채널 튜닝이 신호 무결성을 크게 향상시켜 최적의 BER 및 FEC 오류 성능 검증을 실현하는 동시에 측정 일관성을 높이고 측정 불확실성을 낮추며 제품 개발을 가속화하는 과정을 직접 확인해 보십시오.
주요 내용:
고속 디지털 설계 엔지니어, 신호 무결성(SI) 엔지니어, 광모듈 연구개발 엔지니어, 광통신 엔지니어, 칩셋 검증 엔지니어, 테스트 및 측정 엔지니어, 제품 검증 엔지니어, 그리고 AI 서버, 데이터 센터, 광통신, 네트워크 장비 및 반도체 산업의 R&D 및 기술 관리 인력
무엇을 찾고 있습니까?