웨비나
인공지능(AI), 클라우드 기술 및 네트워크 애플리케이션의 발전이 가속화됨에 따라 고속 광전자 상호연결 기술의 적용이 점점 더 보편화되고 있습니다. 상호연결 성능을 검증하기 위해서는 기존의 물리 계층 측정만으로는 턱없이 부족합니다. 엔지니어들은 대규모 배포 시의 신뢰성을 보장하기 위해 실제 환경에서 전체 상호연결 구성 요소의 디지털 계층 오류율 성능을 검증해야 합니다.
Keysight 제품 전문가와 함께 이러한 새로운 검증 요구 사항을 주도하는 최신 동향을 살펴보시기를 진심으로 초대합니다. 이 세션을 통해 차세대 상호 연결 테스트의 4대 핵심 원칙, 시스템 신뢰성을 정확하게 평가하고 보장하는 데 필요한 핵심 측정 항목, 그리고 Keysight의 새로운 다중 채널 기능성 비트 오류 분석기 FITS가 디지털 계층 비트 오류율(BER) 및 전방 오류 정정(FEC) 성능 검증을 어떻게 지원하고 최적화하는지 알아보실 수 있습니다.
이번 세미나에서는 키사이트의 새로운 다중 채널 기능성 오류율 분석기 FITS와 키사이트 DCA-M 샘플링 오실로스코프를 결합하여 자동 채널 튜닝 기술을 적용하는 방법을 시연할 예정입니다. 자동 채널 튜닝이 신호 무결성을 획기적으로 향상시켜 최적의 BER 및 FEC 오류율 성능 검증을 실현하는 동시에, 측정 일관성을 높이고 측정 불확실성을 줄이며 제품 개발 속도를 가속화하는 과정을 직접 확인해 보시기 바랍니다.
다음과 같은 혜택을 누리실 수 있습니다:
고속 디지털 설계 엔지니어, 신호 무결성(SI) 엔지니어, 광모듈 연구개발 엔지니어, 광통신 엔지니어, 칩 검증 엔지니어, 테스트 및 계측 엔지니어, 제품 검증 엔지니어, 그리고 AI 서버, 데이터 센터, 광통신, 네트워크 장비 및 반도체 업계의 연구개발 및 기술 관리자.
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