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随着人工智能（AI）、云技术和网络应用的深入发展，高速光电互连技术的应用日益普及。要验证互连性能，仅靠传统的物理层测量已远远不够。工程师必须验证整个互连组件在真实世界中的数字层误码性能，以确保大规模部署的可靠性。
诚邀您与 Keysight 产品专家一同探索驱动这些全新验证需求的最新趋势。您将了解到下一代互连测试的四大关键原则、准确评估和确保系统可靠性能所需的关键测量项，以及全新的 Keysight 多通道功能性误码仪FITS如何支持并优化数字层误码率（BER）与前向纠错（FEC）误码性能的验证。
本次研讨会还将展示如何结合全新的 Keysight 多通道功能性误码仪FITS 与 Keysight DCA-M 采样示波器，应用自动化通道调谐技术。亲眼见证自动化通道调谐如何大幅提升信号完整性，以实现最佳的 BER 和 FEC 误码性能验证，同时提高测量一致性、降低测量不确定性并加速产品开发。
您将收获：
高速数字设计工程师、信号完整性（SI）工程师、光模块研发工程师、光通信工程师、芯片验证工程师、测试测量工程师、产品验证工程师，以及来自AI服务器、数据中心、光通信、网络设备和半导体行业的研发与技术管理人员。
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