如何執行射頻放大器增益測試

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+ 信號 產生器

運用高功率、快速訊號產生器加速放大器測試

準確表徵射頻與微波裝置中放大器的增益，需要精確且可重複的測量方法。信號發生器向被測放大器提供已知輸入功率水平（Pin），同時功率感測器或信號分析儀測量產生的輸出功率（Pout）。增益以分貝值表示（10 × log₁₀(Pout / Pin)），用以量化放大器提升訊號強度的能力。設計過程中，工程師透過監控此關係來優化線性度與輸出效率；而精確測量則仰賴嚴謹的功率校準，以及快速穩定的訊號源控制。

在測試增益壓縮時，當輸出功率飽和且增益下降1分貝（即P1dB點）訊號源高訊號源對於驅動放大器進入壓縮狀態而不產生失真訊號源。憑藉充足的輸出驅動能力與低失真特性，此類訊號源能提供高效、高產量放大器測試所需的動態範圍與速度。在製造環節，技術人員透過驗證不同頻率範圍與功率水準下的增益一致性來確保生產品質，這使得快速的頻率與幅度切換基礎最大化基礎。

射頻放大器增益測試解決方案

測試射頻與微波裝置的放大器增益，需具備跨頻段精準的訊號產生能力，並搭配高輸出功率以驗證增益壓縮特性。是德科技的緊湊型高性價比類比訊號產生器，具備低至200微秒的快速頻率切換時間，可有效提升製造測試的吞吐量。

此外，這款緊湊型類比訊號產生器可提供高達+23 dBm的輸出功率，在補償系統損耗的同時，能精確表徵高功率放大器。其訊號純淨度卓越，在1 GHz頻率下具備低至-130 dBc/Hz的相位雜訊。 GHz （20千赫偏移）時低至-130 dBc/Hz的相位噪聲、極少雜散訊號，以及在1 GHz。此測試儀器提供3U規格（含圖示前置面板介面）或無頭1U規格兩種選擇。

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