RF 증폭기 이득 테스트 수행 방법

신호 발생기
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고출력 고속 신호 발생기로 증폭기 테스트 가속화

RF 및 마이크로웨이브 디바이스에서 증폭기 이득을 정확하게 특성화하려면 정밀하고 반복 가능한 측정 방법이 필요합니다. 신호 발생기는 테스트 중인 증폭기에 알려진 입력 전력 레벨(Pin)을 제공하고, 전력 센서 또는 신호 분석기는 결과 출력 전력(Pout)을 측정합니다. 이득은 10 × log₁₀(Pout / Pin)으로 데시벨로 표현되며, 신호 강도를 증폭하는 증폭기의 능력을 정량화합니다. 설계 과정에서 엔지니어는 이 관계를 모니터링하여 선형성 및 출력 효율을 최적화하며, 정확한 측정은 신중한 전력 교정 및 빠르고 안정적인 소스 제어에 달려 있습니다.

출력 전력이 포화되고 이득이 1dB 감소하는 이득 압축(P1dB 지점)을 테스트할 때, 왜곡 없이 증폭기를 압축 상태로 구동하려면 고출력 신호 소스가 중요합니다. 충분한 출력 구동력과 낮은 왜곡을 갖춘 이러한 소스는 효율적인 대량 증폭기 테스트에 필요한 동적 범위와 속도를 제공합니다. 제조 현장에서 기술자는 주파수 범위와 전력 레벨 전반에 걸쳐 이득 일관성을 검증하여 생산 품질을 보장하며, 이는 처리량을 극대화하는 데 빠른 주파수 및 진폭 스위칭을 필수적으로 만듭니다.

RF 증폭기 이득 테스트 솔루션

RF 및 마이크로웨이브 장치에서 증폭기 이득을 테스트하려면 다양한 주파수에 걸쳐 정확한 신호 생성과 이득 압축을 테스트하기 위한 높은 출력 전력이 필요합니다. 키사이트의 소형, 비용 효율적인 아날로그 신호 발생기는 200마이크로초까지 빠른 주파수 스위칭 시간을 제공하여 제조 테스트의 처리량을 최적화합니다.

또한 이 소형 아날로그 신호 발생기는 최대 +23dBm의 출력 전력을 제공하여 시스템 손실을 보상하면서 고전력 증폭기를 정밀하게 특성화할 수 있습니다. 또한 1GHz(20kHz 오프셋)에서 -130dBc/Hz의 낮은 위상 잡음, 최소한의 스퓨리어스 신호, 1GHz에서 -40dBc만큼 낮은 고조파를 통해 탁월한 신호 순도를 제공합니다. 이 테스트 장비는 전면 패널 인터페이스(사진)가 있는 3U 폼 팩터 또는 헤드리스 1U 폼 팩터로 제공됩니다.

 

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