RF増幅器の利得試験の実施方法

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高出力・高速信号発生器によるアンプテストの加速

RFおよびマイクロ波デバイスにおけるアンプ利得を正確に特性評価するには、高精度で再現性のある測定方法が必要です。信号発生器は、被試験アンプに既知の入力電力レベル (Pin) を供給し、パワーセンサまたはシグナル・アナライザが結果として得られる出力電力 (Pout) を測定します。利得は、10 × log₁₀(Pout / Pin) としてデシベルで表され、アンプの信号強度を増幅する能力を定量化します。設計段階では、エンジニアはこの関係を監視して直線性および出力効率を最適化し、正確な測定は慎重な電力校正と迅速で安定したソース制御に依存します。

出力電力が飽和し、ゲインが1 dB低下する（P1dB点）ゲイン圧縮をテストする際、高出力信号源は、歪みなくアンプを圧縮状態に駆動するために不可欠です。十分な出力駆動と低歪みにより、これらの信号源は効率的で大量のアンプテストに必要なダイナミックレンジと速度を提供します。製造においては、技術者は周波数範囲と電力レベル全体でゲインの一貫性を検証することで生産品質を確保し、これにより高速な周波数および振幅スイッチングがスループットを最大化するために不可欠となります。

RF増幅器利得試験ソリューション

RFおよびマイクロ波デバイスのアンプゲインをテストするには、広範な周波数にわたる正確な信号生成と、ゲイン圧縮をテストするための高出力パワーが必要です。キーサイトのコンパクトでコスト効率の高いアナログ信号発生器は、200マイクロ秒という高速な周波数スイッチング時間を提供し、製造テストにおけるスループットを最適化します。

さらに、このコンパクトなアナログ信号発生器は、最大+23 dBmの出力パワーを提供し、システム損失を補償しながら高出力アンプの正確な特性評価を可能にします。また、1 GHz（20 kHzオフセット）で-130 dBc/Hzの低位相ノイズ、最小限のスプリアス信号、1 GHzで-40 dBcという低レベルのハーモニクスにより、卓越した信号純度を実現します。このテスト機器は、フロントパネルインターフェースを備えた3Uフォームファクタ（写真）またはヘッドレスの1Uフォームファクタで利用可能です。

 

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