相互変調試験の実施方法

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純粋なシグナル・ジェネレーターによる相互変調テスト精度の向上

相互変調歪み (IMD) を正確に測定するには、アンプの非線形応答を明らかにするために、正確な周波数と等しい電力レベルで2つ以上のクリーンな連続波トーンを生成する必要があります。独立した信号発生器を使用する従来のテストセットアップでは、発振器の変動、高調波、非高調波スプリアスがアーティファクトやコンバイナでの不均一な電力を導入する可能性があるため、バランスの取れたトーンとスペクトル純度を維持するのに苦労することがよくあります。これらの不整合はIMD測定の精度と再現性を低下させ、特に隣接チャネル干渉が性能を制限する可能性のある無線通信では、再現性のあるテストを困難にします。

優れた位相ノイズと広い校正済み出力電力範囲を備えた先進の信号発生器は、信頼性の高いIMDおよび3次インターセプト変調テストのために正確な2トーン信号を生成します。このアプローチにより、正確な非線形性特性評価、設計検証、製造テストに不可欠な安定した再現性のある3次積が得られ、エンジニアは高性能ワイヤレスシステムを自信を持って開発できます。

相互変調ディストーション ソリューション

正確な相互変調歪みテストには、IP3などのアンプの非線形性を明らかにするために、異なる周波数で等しい電力レベルを持つ2つのクリーンな連続波トーンが必要です。キーサイトの費用対効果の高いコンパクトなシグナル・ジェネレータは、優れた位相ノイズ、低高調波、最小限の非高調波スプリアスを提供することで、純粋な信号生成を可能にし、これを簡素化します。

このアーキテクチャは、観測されるIMD生成物が被試験デバイスのみに由来することを保証し、高電力時でも精密な校正を可能にする9 kHz～26 GHzの周波数範囲と-120～+20 dBmの出力に対応しています。また、1 GHz（20 kHzオフセット）で-130 dBc/Hzの低位相ノイズ、最小限のスプリアス信号、および1 GHzで-40 dBcという低レベルの高調波により、優れた信号純度を実現します。その結果、ジェネレーターのアーチファクトを含まない、信頼性の高い再現可能な歪み測定が可能となり、無線およびワイヤレスシステムの検証に最適です。

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