상호변조 테스트 수행 방법

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순수 신호 발생기를 사용하여 상호 변조 테스트 정확도 향상

상호 변조 왜곡(IMD)을 정확하게 측정하려면 증폭기의 비선형 응답을 확인하기 위해 정밀한 주파수와 동일한 전력 레벨에서 2개 이상의 깨끗한 연속파 톤을 생성해야 합니다. 독립적인 신호 발생기를 사용하는 기존 테스트 설정은 발진기 변동, 고조파 및 비고조파 스퓨리어스가 결합기에서 아티팩트와 불균일한 전력을 유발할 수 있으므로 균형 잡힌 톤과 스펙트럼 순도를 유지하는 데 어려움을 겪는 경우가 많습니다. 이러한 불일치는 IMD 측정의 정확도와 반복성을 저하시켜 반복 가능한 테스트를 어렵게 만들며, 특히 인접 채널 간섭이 성능을 제한할 수 있는 무선 통신 분야에서 더욱 그렇습니다.

우수한 위상 잡음과 넓은 교정 출력 전력 범위를 갖춘 고급 신호 발생기는 안정적인 IMD 및 3차 인터셉트 변조 테스트를 위한 정밀한 2톤 신호를 생성합니다. 이 접근 방식은 정확한 비선형성 특성화, 설계 검증 및 제조 테스트에 필수적인 안정적이고 반복 가능한 3차 제품을 생성하여 엔지니어가 고성능 무선 시스템을 자신 있게 개발할 수 있도록 합니다.

상호변조 왜곡 테스트 솔루션

정확한 상호 변조 왜곡 테스트는 IP3와 같은 증폭기 비선형성을 드러내기 위해 동일한 전력 레벨을 가진 두 개의 깨끗하고 연속파 톤을 서로 다른 주파수에서 요구합니다. 키사이트의 비용 효율적인 소형 신호 발생기는 우수한 위상 잡음, 낮은 고조파 및 최소한의 비고조파 스퓨리어스를 제공하여 순수한 신호 생성을 통해 이를 간소화합니다.

이 아키텍처는 9kHz ~ 26GHz 범위와 -120 ~ +20dBm 출력을 지원하여 고전력에서도 정밀한 교정을 가능하게 하는 동시에, 관찰된 IMD 제품이 전적으로 DUT(Device Under Test)에서 비롯되도록 보장합니다. 또한 1GHz(20kHz 오프셋)에서 -130dBc/Hz의 낮은 위상 잡음, 최소한의 스퓨리어스 신호, 1GHz에서 -40dBc에 불과한 고조파를 통해 탁월한 신호 순도를 제공합니다. 그 결과, 발생기 아티팩트 없이 안정적이고 반복 가능한 왜곡 측정이 가능하여 무선 및 무선 시스템 검증에 이상적입니다.

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