LO/クロック代替器を用いたRF変換性能のテスト方法

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低位相ノイズ信号発生器でLO/クロック精度を達成する

オシレータおよびクロック回路設計を確定する前にRF変換性能を検証するには、高精度で周波数安定性の高い信号源が必要です。高純度信号発生器は、システムの局部発振器 (LO) とクロックを置き換えることができ、初期段階のテストに必要な精度と再現性を提供します。テストセットアップでは、1つの信号発生器がミキサにLO入力を供給し、もう1つがアナログ-デジタルコンバータおよびフィールドプログラマブルゲートアレイにサンプリングクロックを提供します (アプリケーションノートの図4を参照)。ADCとFPGAのソースは、内部基準発振器を接続することで周波数ロックされ、信号チェーン全体で同期と一貫したタイミング関係を確保します。

このセットアップにより、エンジニアはプロトタイプ発振器ハードウェアに依存せず、制御された条件下でシステム動作を正確にテストできます。精密な信号発生器からの低位相ノイズと最小限のスプリアス信号は、ソースの不純物による劣化をほとんど伴わずにレシーバ性能を特性評価するのに役立ちます。このテストには、システム開発中の感度、線形性、ノイズフロアの評価が含まれ、これは生産用のクロックおよびLO回路が利用可能になるずっと前に行われます。

LO / クロック置換ソリューション

RF製品開発の重要な段階において、ローカルオシレータ（LO）およびクロックコンポーネントの代替として、安定した高純度信号源を使用することは、RF変換性能テストおよび最適なテスト結果の達成に不可欠です。キーサイトのコンパクトアナログ信号発生器は、9 kHzから26 GHzの周波数をカバーするポータブルな高性能測定器です。

1 GHz (20 kHzオフセット) で-130 dBc/Hzの低位相ノイズ、最小限のスプリアス信号、および1 GHzで-40 dBcという低レベルのハーモニクスにより、卓越した信号純度を実現します。また、マルチソースセットアップでのシームレスな統合のために周波数ロックもサポートしています。さらに、このソリューションは費用対効果が高く、エンジニアは製品開発中により高価な発生器を占有することを避けることができます。    

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