LO/클록 대체기를 이용한 RF 변환 성능 테스트 방법

견적 받기

애플리케이션 노트 보기

+ 신호 발생기

저위상 잡음 신호 발생기로 LO/클럭 정확도 달성

발진기 및 클록 회로 설계를 확정하기 전에 RF 변환 성능을 검증하려면 정밀하고 주파수 안정적인 신호원이 필요합니다. 고순도 신호 발생기는 시스템의 국부 발진기(LO) 및 클록을 대체하여 초기 단계 테스트에 필요한 정확도와 반복성을 제공할 수 있습니다. 테스트 설정에서 하나의 신호 발생기는 믹서에 LO 입력을 공급하고, 다른 하나는 아날로그-디지털 변환기 및 필드 프로그래머블 게이트 어레이에 샘플링 클록을 제공합니다(애플리케이션 노트 그림 4 참조). ADC 및 FPGA의 소스는 내부 레퍼런스 발진기를 연결하여 주파수 동기화되어 신호 체인 전반에 걸쳐 동기화 및 일관된 타이밍 관계를 보장합니다.

이 설정은 엔지니어가 프로토타입 발진기 하드웨어와 독립적으로 제어된 조건에서 시스템 동작을 정확하게 테스트할 수 있도록 합니다. 정밀 신호 발생기의 낮은 위상 잡음과 최소한의 스퓨리어스 신호는 소스 불순물로 인한 저하가 거의 없이 수신기 성능을 특성화하는 데 도움을 줍니다. 이 테스트에는 생산 클럭 및 LO 회로를 사용할 수 있기 훨씬 전에 시스템 개발 중 감도, 선형성 및 잡음 플로어가 포함됩니다.

LO / 클록 대체 솔루션

RF 제품 개발의 중요한 단계에서 국부 발진기(LO) 및 클록 구성 요소를 대체하는 안정적이고 고순도 신호 소스를 사용하는 것은 RF 변환 성능 테스트 및 최적의 테스트 결과를 달성하는 데 필수적입니다. 키사이트의 소형 아날로그 신호 발생기는 9kHz에서 26GHz까지의 주파수를 커버하는 휴대형 고성능 장비입니다.

이 제품은 1GHz(20kHz 오프셋)에서 -130dBc/Hz의 낮은 위상 잡음, 최소한의 스퓨리어스 신호, 1GHz에서 -40dBc에 불과한 고조파를 통해 탁월한 신호 순도를 제공합니다. 또한 다중 소스 설정에서 원활한 통합을 위한 주파수 잠금을 지원합니다. 또한 이 솔루션은 비용 효율적으로 설계되어 엔지니어가 제품 개발 중에 더 비싼 발생기를 사용하지 않도록 합니다.

견적 받기