如何使用本振/時鐘替代器測試射頻轉換性能

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搭配低相位雜訊訊號產生器，實現 LO/時脈精確度

在最終確定振盪器和時脈電路設計之前，驗證 RF 轉換性能需要精確、頻率穩定的訊號源。高純度訊號產生器可以取代系統的本機振盪器 (LO) 和時脈，為早期測試提供所需的準確度和可重複性。在測試設定中，一個訊號產生器為混頻器提供 LO 輸入，而另一個則為類比數位轉換器和現場可程式閘陣列提供取樣時脈（請參閱應用說明中的圖 4）。ADC 和 FPGA 的訊號源透過連接其內部參考振盪器來鎖定頻率，以確保整個訊號鏈的同步和一致的時序關係。

此設置使工程師能夠在受控條件下精確測試系統行為，而無需依賴原型振盪器硬體。精密訊號產生器產生的低相位雜訊和極小的雜散訊號有助於表徵接收器性能，且幾乎不會因來源雜質而產生劣化。此測試包括系統開發期間的靈敏度、線性度和雜訊底限，遠在生產時脈和 LO 電路可用之前。

LO/時脈替代解決方案

在 RF 產品開發的關鍵階段，使用穩定、高純度的訊號源替代本地振盪器 (LO) 和時脈元件，對於 RF 轉換性能測試和實現最佳測試結果至關重要。Keysight 精巧型類比訊號產生器是一款可攜式、高效能儀器，頻率範圍從 9 kHz 到 26 GHz。

它提供卓越的訊號純度，在 1 GHz（20 kHz 偏移）下具有 -130 dBc/Hz 的低相位雜訊、極小的雜散訊號，以及在 1 GHz 下低至 -40 dBc 的諧波。它還支援頻率鎖定，可無縫整合至多訊號源設置中。此外，此解決方案具有成本效益，可讓工程師在產品開發期間避免佔用更昂貴的產生器。    

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