如何分析邊界掃描測試覆蓋率

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+ 邊界掃描分析儀

分析邊界掃描覆蓋率

邊界掃描覆蓋率分析需要將電路圖資料、網路表和邊界掃描描述語言 (BSDL) 檔案匯入可測試性設計 (DFT) 分析工作流程中。該流程評估節點連接性、驗證邊界掃描鏈配置，並對印刷電路板組件的覆蓋條件進行分類，包括完全覆蓋、僅短路覆蓋、僅開路覆蓋、僅驅動覆蓋和部分覆蓋。

可測試性設計工作流程分析邊界掃描和非邊界掃描裝置之間的連接，識別由扇出條件引起的訊號完整性問題，並產生節點級報告以供製造測試審查。覆蓋率報告提供互連行為、連接器測試、上拉和下拉分析以及缺陷檢測分類的詳細可見性，以支援複雜數位系統的生產測試開發。

邊界掃描覆蓋率解決方案

邊界掃描覆蓋率分析需要對複雜印刷電路板組件的節點連接性、缺陷檢測分類和可測試性設計報告進行自動化評估。該解決方案提供全面的可測試性設計分析和報告功能，可評估節點行為、識別故障覆蓋能力，並清晰呈現複雜電路板設計中的邊界掃描連接性。

此解決方案使用 Keysight 邊界掃描分析儀搭配軟體，以匯入電路圖資料、網路列表和 BSDL 檔案，進行邊界掃描驗證與分析。該軟體可驗證邊界掃描實作、評估相容性接腳配置，並識別由扇出條件引起的潛在訊號完整性問題。它還提供節點級可視性，以了解連接性、互連行為和故障分析結果，從而加速複雜印刷電路板設計的分析和故障排除。

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