바운더리 스캔 테스트 커버리지 분석 방법

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바운더리 스캔 커버리지 분석

바운더리 스캔 커버리지 분석을 수행하려면 회로도 데이터, 넷리스트 및 BSDL(Boundary Scan Description Language) 파일을 DFT(Design-for-Testability) 분석 워크플로에 불러와야 합니다. 이 프로세스는 노드 연결성을 평가하고, 바운더리 스캔 체인 구성을 검증하며, 인쇄 회로 기판 어셈블리 전반에 걸쳐 전체 커버리지, 단락 전용 커버리지, 개방 전용 커버리지, 구동 전용 커버리지 및 부분 커버리지와 같은 커버리지 조건을 분류합니다.

테스트 용이성 설계(DFT) 워크플로는 바운더리 스캔 및 비바운더리 스캔 디바이스 간의 연결을 분석하고, 팬아웃(fan-out) 조건으로 인해 발생하는 신호 무결성 문제를 파악하며, 제조 테스트 검토를 위한 노드 수준 보고서를 생성합니다. 커버리지 보고서는 상호 연결 동작, 커넥터 테스트, 풀업 및 풀다운 분석, 결함 탐지 분류에 대한 상세한 정보를 제공하여 복잡한 디지털 시스템의 생산 테스트 개발을 지원합니다.

바운더리 스캔 커버리지 솔루션

바운더리 스캔 커버리지 분석은 복잡한 인쇄 회로 기판 어셈블리 전반에 걸쳐 노드 연결성 자동 평가, 결함 탐지 및 분류, 그리고 테스트 용이성(DFT) 보고 기능을 필요로 합니다. 이 솔루션은 노드 동작을 평가하고, 결함 커버리지 능력을 파악하며, 복잡한 기판 설계 전반에 걸친 바운더리 스캔 연결성을 명확하게 파악할 수 있도록 지원하는 포괄적인 테스트 용이성 분석 및 보고 기능을 제공합니다.

이 솔루션은 키사이트(Keysight) 경계 스캔 분석기와 관련 소프트웨어를 활용하여 회로도 데이터, 넷리스트 및 BSDL 파일을 불러와 경계 스캔 검증 및 분석을 수행합니다. 이 소프트웨어는 경계 스캔 구현을 검증하고, 핀 구성의 적합성을 평가하며, 팬아웃(fan-out) 조건으로 인해 발생할 수 있는 신호 무결성 문제를 식별합니다. 또한 연결성, 상호 연결 동작 및 결함 분석 결과에 대한 노드 수준의 가시성을 제공하여, 복잡한 인쇄 회로 기판 설계에 대한 분석 및 문제 해결을 더욱 신속하게 수행할 수 있도록 지원합니다.

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