바운더리 스캔 테스트 커버리지 분석 방법

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바운더리 스캔 커버리지 분석

바운더리 스캔 커버리지 분석은 회로도 데이터, 넷리스트 및 바운더리 스캔 기술 언어(BSDL) 파일을 테스트 용이성 설계(DFT) 분석 워크플로우로 가져와야 합니다. 이 프로세스는 노드 연결성을 평가하고, 바운더리 스캔 체인 구성을 검증하며, 인쇄 회로 기판 어셈블리 전반에 걸쳐 전체 커버리지, 단락 전용 커버리지, 개방 전용 커버리지, 구동 전용 커버리지 및 부분 커버리지를 포함한 커버리지 조건을 분류합니다.

테스트 용이성 설계 워크플로우는 바운더리 스캔 장치와 비바운더리 스캔 장치 간의 연결을 분석하고, 팬아웃 조건으로 인한 신호 무결성 문제를 식별하며, 제조 테스트 검토를 위한 노드 수준 보고서를 생성합니다. 커버리지 보고서는 상호 연결 동작, 커넥터 테스트, 풀업 및 풀다운 분석, 결함 감지 분류에 대한 자세한 가시성을 제공하여 복잡한 디지털 시스템의 생산 테스트 개발을 지원합니다.

바운더리 스캔 커버리지 솔루션

바운더리 스캔 커버리지 분석은 복잡한 인쇄 회로 기판 어셈블리 전반에 걸쳐 노드 연결성, 결함 감지 분류 및 테스트 용이성 설계 보고에 대한 자동화된 평가를 필요로 합니다. 이 솔루션은 노드 동작을 평가하고, 결함 커버리지 기능을 식별하며, 복잡한 보드 설계 전반에 걸쳐 바운더리 스캔 연결성에 대한 명확한 가시성을 제공하는 포괄적인 테스트 용이성 설계 분석 및 보고 기능을 제공합니다.

이 솔루션은 키사이트 바운더리 스캔 분석기와 소프트웨어를 사용하여 바운더리 스캔 검증 및 분석을 위한 회로도 데이터, 넷리스트 및 BSDL 파일을 가져옵니다. 이 소프트웨어는 바운더리 스캔 구현을 검증하고, 규격 핀 구성을 평가하며, 팬아웃 조건으로 인해 발생할 수 있는 잠재적인 신호 무결성 문제를 식별합니다. 또한 연결성, 상호 연결 동작 및 결함 분석 결과에 대한 노드 수준 가시성을 제공하여 복잡한 인쇄 회로 기판 설계의 더 빠른 분석 및 문제 해결을 가능하게 합니다.

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