如何進行 6G D 波段雜訊圖測量

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使用雜訊數據量測驗證 6G sub-THz 設計

早期的 6G 研究需要探索 D 波段 (110 到 170 GHz) 以進行原型設計和系統性能驗證。被測設備 (DUT) 的雜訊係數是測量和表徵 6G 系統性能的關鍵 RF 參數。工程師需要一台訊號分析儀來測量兩次雜訊功率，分別對應於雜訊源開啟和關閉，同時系統下變頻本地振盪器 (LO) 在 D 波段頻率範圍內掃描。軟體會自動控制並執行操作。

測量系統應具備低雜訊數，以達到高準確度。測試工程師需要一台訊號分析儀，利用雜訊源和系統下變頻，提供獨立、自控的量測。使用校準和量測的簡單兩步程序即可進行雜訊係數量測。完成校準之後，測試工程師可以在 DUT 上量測 D 頻段雜訊係數，產生雜訊係數結果，並能快速評估 DUT 的效能。

6G D-band 雜訊係數量測解決方案

6G D-band 雜訊係數量測解決方案

要測量和表徵 sub-THz 6G 系統的效能，需要進行雜訊圖測量。Keysight 適用於 D 波段頻率的雜訊係數量測解決方案，包含一台配備雜訊係數量測應用軟體的 Keysight X 系列訊號分析儀、Virginia Diodes (VDI) 下變頻器和雜訊源，以及一台 Keysight 訊號產生器作為 LO。雜訊源提供寬頻雜訊至 DUT 輸入，並具有預先校準的過量雜訊比值。系統降頻器將 DUT 輸出的輸入 D 波段頻率轉換為固定的中頻 (IF)。具有雜訊係數量測應用的訊號分析儀使用 Y 因子法計算 DUT 的雜訊係數。
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