6G D-대역 잡음 지수 측정 방법

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잡음 지수 측정을 사용한 6G Sub-THz 설계 검증

초기 6G 연구에서는 프로토타이핑 및 시스템 성능 검증을 위해 D-대역(110~170GHz) 탐색이 필요합니다. DUT(테스트 대상 디바이스)의 잡음 지수는 6G 시스템의 성능을 측정하고 특성화하는 데 중요한 RF 파라미터입니다. 엔지니어는 시스템 다운컨버터 국부 발진기(LO)가 D-대역 주파수 범위를 스윕하는 동안 잡음원 On 및 Off에 해당하는 잡음 전력을 두 번 측정하기 위해 신호 분석기가 필요합니다. 소프트웨어는 작업을 자동으로 제어하고 수행합니다.

높은 정확도를 위해 측정 시스템은 낮은 잡음 지수를 가져야 합니다. 테스트 엔지니어는 잡음원 및 시스템 다운컨버터와 함께 독립적이고 자체 제어되는 측정을 제공하는 신호 분석기가 필요합니다. 교정 및 측정을 사용하는 간단한 2단계 절차로 잡음 지수 측정을 수행할 수 있습니다. 교정을 완료한 후 테스트 엔지니어는 DUT에서 D-대역 잡음 지수를 측정하여 잡음 지수 결과를 얻고 DUT 성능을 신속하게 평가할 수 있습니다.

6G D-밴드 노이즈 측정 솔루션

Sub-THz 6G 시스템의 성능을 측정하고 특성화하려면 잡음 지수 측정을 수행해야 합니다. D-대역 주파수용 키사이트 잡음 지수 측정 솔루션은 잡음 지수 측정 애플리케이션 소프트웨어가 포함된 키사이트 X-시리즈 신호 분석기, Virginia Diodes(VDI) 다운컨버터 및 잡음원, 그리고 LO 역할을 하는 키사이트 신호 발생기로 구성됩니다. 잡음원은 사전 보정된 초과 잡음비 값으로 DUT 입력에 광대역 잡음을 제공합니다. 시스템 다운컨버터는 DUT 출력에서 입력 D-대역 주파수를 고정된 중간 주파수(IF)로 변환합니다. 잡음 지수 측정 애플리케이션이 포함된 신호 분석기는 Y-팩터 방법을 사용하여 DUT의 잡음 지수를 계산합니다.
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