Durchführung von 6G D-Band Rauschzahlmessungen

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Verifizierung von 6G-Sub-THz-Designs mithilfe von Rauschzahlmessungen

Die frühe 6G-Forschung erfordert die Erforschung des D-Bandes (110 bis 170 GHz) für die Entwicklung von Prototypen und die Validierung der Systemleistung. Die Rauschzahl eines Prüflings ist ein entscheidender HF-Parameter zur Messung und Charakterisierung der Leistung von 6G-Systemen. Ingenieure benötigen einen Signalanalysator, um die Rauschleistung zweimal zu messen, entsprechend dem Ein- und Ausschalten der Rauschquelle, während der lokale Oszillator (LO) des Systemabwärtskonverters über den D-Band-Frequenzbereich wobbelt. Die Software wird den Vorgang automatisch steuern und durchführen.

Das Messsystem sollte eine niedrige Rauschzahl für hohe Genauigkeit haben. Prüfingenieure benötigen einen Signalanalysator, der in sich geschlossene, selbst kontrollierte Messungen mit einer Rauschquelle und einem Systemabwärtswandler ermöglicht. Mit einem einfachen zweistufigen Verfahren aus Kalibrierung und Messung können Rauschzahlmessungen durchgeführt werden. Nach Abschluss der Kalibrierung können die Prüfingenieure das D-Band-Rauschmaß am Prüfling messen, was Rauschzahlergebnisse liefert und eine schnelle Bewertung der Leistung des Prüflings ermöglicht.

6G D-Band Rauschzahlmesslösung

Die Messung und Charakterisierung der Leistung von Sub-THz 6G-Systemen erfordert die Durchführung von Rauschzahlmessungen. Die Keysight Rauschzahlmesslösung für D-Band-Frequenzen besteht aus einem Keysight Signalanalysator der X-Serie mit Anwendungssoftware zur Rauschzahlmessung, einem Virginia Diodes (VDI) Abwärtswandler und einer Rauschquelle sowie einem Keysight Signalgenerator als LO. Die Rauschquelle liefert breitbandiges Rauschen an den Prüflingseingang mit vorkalibrierten Werten für das Überschussrauschverhältnis. Der Systemabwärtswandler wandelt die D-Band-Eingangsfrequenz vom Prüflingsausgang in eine feste Zwischenfrequenz (IF) um. Der Signalanalysator mit der Anwendung zur Rauschzahlmessung verwendet die Y-Faktor-Methode zur Berechnung der Rauschzahl des Messobjekts.
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