如何分析低功率積體電路的特性

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使用電源量測設備分析低功率 IC 的特性

量測低功率積體電路（IC）之電流/電壓特性的傳統測試配置，需用到各式各樣的基礎儀器， 包括多個電源供應器（以便為電壓要求各不相同的各種測試埠提供所需的電壓），以及用於量測電壓和電流的數位萬用電錶（DMM）。 有些測試案例需使用脈衝產生器來模擬信號，進一步使用數位轉換器來擷取時域中的信號。

使用電源量測設備（SMU）作為電源供應器，並使用電流錶、電壓錶和數位轉換器，執行多通道同步電流/電壓（IV）量測。 在進行任何休眠電流量測之前，請先設定儀器自我校驗功能和準確的量測範圍，特別是量測精準度低於毫安培（mA）的 IC。 為了進行準確的動態量測，SMU 的取樣率必須夠快，以便在從休眠狀態轉換到運作狀態時擷取信號。

IC 測試解決方案

低功率 IC 特性分析解決方案

分析低功率 IC 的特性時，您需使用各種基礎儀器，包括多個電源供應器、數位萬用電錶（DMM）、脈衝產生器和數位轉換器。 是德科技低功率 IC 特性分析解決方案包括 PZ2100 系列 SMU（在 1U 機架空間中提供 20 個 SMU 通道）、整合式脈衝產生器/數位轉換器，以及 PW9251A PathWave IV Curve 量測軟體。 利用此解決方案，您可在各種操作條件下，以極低的電流和電壓位準執行 IV 特性分析，以驗證您的電路設計、找出任何故障或問題，進而將其效能最佳化。
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