- 概述
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- 支援
桌上型 SMU 的最高效能
Keysight 旗艦源量測單元是我們最先進、性能最高的型號，非常適合超高精度量測和高速瞬態分析。我們的旗艦 SMU 具有 6.5 位數的源解析度、超快速取樣以及我們桌上型 SMU 中最高的量測準確度，使其成為在更高層級的研發、電力電子和奈米材料研究中，模擬真實世界條件以測試耗電裝置的理想選擇。選擇我們最受歡迎的配置之一，或根據您的應用配置專用產品。
高源解析度
6.5 位數解析度可實現高精確度量測，這對於測試靈敏元件以及準確且可重複地擷取低位準訊號至關重要。
超高速取樣
採用每秒100千秒安培的採樣速率，以10微秒間隔捕捉快速瞬態現象，確保數據精準並避免在快速切換裝置中遺漏活動。
捲動檢視模式
提供 SMU 測量的即時捲動圖，非常適合連續監測、緩慢變化或即時診斷裝置行為。
高電容驅動模式
實現穩定的電壓或電流源輸出到高電容負載（例如電容器、長纜線或功率元件），不會產生振盪或延遲。
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Source resolution
6.5 digits
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最小電流量測解析度
10 fA
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Number of channels
1 至 2
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Pulse output
Yes
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每個輸出的最大電壓
210 V
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每個輸出的最大電流
3.0 A DC / 10.5 A pulse
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最大的取樣率
100 kSa/s
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Minimum sampling interval
10 µs
最熱門配置
單通道，10 fA 解析度
雙通道，10 fA 解析度
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
源量測單元透過提供精確的電壓和電流源出、高功率輸出能力和進階保護機制，處理高功率應用。這些功能確保功率電子、電池和高功率半導體裝置的準確和安全測試。
- 許多高功率 SMU 支援寬廣的電壓和電流範圍，通常可達數百伏特和數十安培。這使其能夠測試功率電晶體（IGBT、MOSFET、SiC、GaN）、DC-DC 轉換器、太陽能電池和電池組。
- 它們還整合了四象限操作，使其能夠同時供電和吸電。此功能對於模擬真實世界操作條件至關重要，例如電池充電和放電或測試雙向電源裝置。
- 為了防止過度功耗和待測裝置 (DUT) 損壞，高功率 SMU 包含順從限制，確保電壓和電流不會超過預設的安全閾值。
- 此外，許多 SMU 具備脈衝量測功能，使其能夠在短時間內提供高功率脈衝。這減少了敏感裝置的自熱效應，同時仍能實現準確的高功率特性分析。
- 高功率 SMU 也整合了主動式散熱、熱保護和可編程電源時序，這些功能可確保即使在嚴苛的條件下也能穩定運作。
這些能力使 SMU 在高功率半導體測試、汽車和航空電子產品、儲能系統以及再生能源研究中不可或缺，因為這些領域對高功率裝置的精確控制和量測至關重要。
源量測單元 (SMU) 透過整合高解析度量測功能、低雜訊設計和進階靈敏度增強功能，確保精確的低電流量測。這使得電流能夠準確偵測到飛安 (fA) 範圍。
低電流量測在半導體洩漏測試、奈米科技研究、光電二極體特性分析和材料科學等應用中至關重要。
為了達到這種精確度，SMU：
- 利用低雜訊、高增益的靜電計，可最大限度地減少干擾和熱漂移，這些干擾和熱漂移可能會影響極小電流下的讀數。
- 具備高解析度類比數位轉換器 (ADC)，具有多個量測範圍，可自動切換至最靈敏的範圍以實現最佳準確度
- 整合先進的濾波技術，例如低通濾波器和移動平均濾波器，以減少來自環境來源的外部雜訊，包括電磁干擾 (EMI) 和電源線波動。
- 包含保護和三軸連接，有助於消除洩漏電流，並在量測超低電流時提高隔離度。
- 透過施加低負載電壓 (虛擬接地) 技術，維持敏感量測的完整性，以確保測試導線上的電壓降最小化。
- 採用零點檢查和偏移補償，以校正漂移和背景電流，進一步提高準確度
這些功能使 SMU 成為研究人員和工程師在處理低功耗電子產品、生物醫學感測器和超靈敏電子元件時不可或缺的工具。它們確保精確、可重複且可靠的低電流測量。
源量測單元 (SMU) 和靜電計都用於超低電流量測，但它們在功能、準確度和應用範圍上有所不同。
靜電計是高度專業化的儀器，專為測量極低電流而設計，通常可測量至阿安培 (aA) 範圍，具有極低的雜訊和極高的輸入阻抗（通常 >10⁴⁴ 歐姆）。這使其非常適合皮安培級洩漏電流測試、離子束實驗和超靈敏光電二極體特性分析等應用。然而，靜電計通常不具備源功能，這表示它們只能測量電氣訊號，而不能主動控制它們。
相較之下，SMU 結合了源和量測功能，可實現精確的電流-電壓 (IV) 特性分析，並具有出色的低電流靈敏度，通常在飛安 (fA) 範圍內。這使得它們非常適用於半導體測試、低功率感測器開發和材料研究等應用。
現代 SMU 採用低雜訊設計、三軸屏蔽和高解析度 ADC，以在低電流量測中實現高準確度。靜電計仍提供卓越的靈敏度，適用於最低電流位準，歸因於其超低輸入偏置電流和降噪技術。
因此，對於需要供電和量測的應用，SMU 是首選；而當電流測量極高精度是主要要求時，靜電計則是理想選擇。
源量測單元 (SMU) 對於 LED 和雷射二極體的特性分析至關重要。它們提供精確的電流和電壓控制、準確的 IV 量測以及保護機制，以確保這些光電元件的可靠測試。
LED 和雷射二極體需要電流控制測試，因為其光學輸出和電氣效能高度依賴於所施加的電流。SMU 在電流源模式下運作，施加精確且穩定的電流，同時量測產生的電壓（順向電壓，Vf）和光輸出特性。這讓工程師能夠產生 IV 曲線、確定臨界電壓並評估效率。
對於雷射二極體，SMU 有助於識別雷射閾值電流、斜率效率和功率穩定性等關鍵參數。進階 SMU 還支援脈衝測試，可防止過度自熱而改變二極體的特性，這對於高功率 LED 和雷射二極體特別有用。
此外，SMU 包含合規電壓設定，可保護精密的半導體材料免受過電壓損壞。其低雜訊性能、高速量測和四象限操作，使其成為顯示器、光通訊裝置和高效率照明系統開發中研發、生產測試和可靠性分析的理想選擇。
源量測單元 (SMU) 中高解析度量測的重要性，例如飛安培 (fA) 和奈伏 (nV) 精度，在於其能夠準確表徵超低電流和電壓位準。這對於先進電子產品、半導體測試和材料研究至關重要。
許多現代裝置，例如奈米材料、低功率半導體、感測器和對洩漏電流敏感的元件，需要在極小的訊號位準下進行精確的電氣特性分析。
例如，在半導體測試中，精確量測電晶體和二極體中的次奈安培漏電流，有助於判斷其可靠性和效率。在材料科學中，高解析度量測可讓研究人員分析石墨烯、碳奈米管和薄膜材料的電氣特性，其中微小的訊號變化至關重要。
光電偵測器、微機電系統 (MEMS) 和生醫感測器也需要超低電流測量，以確保功能性和準確性。若無如此高的精確度，傳統儀器（例如標準萬用電表或電源供應器）可能會引入雜訊或測量誤差，導致分析不正確。