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是德旗艦 電源量測設備 我們最進階 性能最高的型號,專為超高精度量測與高速瞬態分析而設計。旗艦 具備 6.5 位數源解析度、超高速採樣能力,以及桌上型 SMU 中最高測量精度,能完美模擬真實環境條件,適用於高階研發、電力電子及奈米材料研究中的高耗能裝置測試。您可選擇熱門預設配置,或依應用需求客製專屬規格。
6.5位數解析度實現高度精確的測量,此特性對於測試敏感裝置及精準捕捉低電平訊號至關重要,能確保測量結果具備優異的精確度與重複性。
採用每秒100千秒安培的採樣速率,以10微秒間隔捕捉快速瞬態現象,確保數據精準並避免在快速切換裝置中遺漏事件。
提供即時滾動顯示的SMU量測圖表,適用於持續監測、緩慢變化,或即時診斷裝置行為。
可為高電容負載(如電容器、長電纜或功率裝置)提供穩定的電壓或電流源,且無振盪或延遲現象。
Source resolution
6.5 digits
最小電流量測解析度
10 fA
Number of channels
1 至 2
Pulse output
Yes
每個輸出的最大電壓
210 V
每個輸出的最大電流
3.0 A DC / 10.5 A pulse
最大的取樣率
100 kSa/s
Minimum sampling interval
10 µs
是德科技 B2911C 精密源測單元(SMU)是一款緊湊、經濟實惠的單通道 SMU,可精確輸出與測量電壓及電流。儀器 其四象限能力儀器 無需儀器 提供使用者友善的電流-電壓(I/V)測量功能。 B2911C配備4.3吋彩色顯示幕,可呈現圖形化或數值化量測結果,並隨附免加購費用的電腦控制軟體以實現遠端操作。本裝置同時支援SCPI指令,能與傳統SMU系統無縫整合,確保高效測試流程的高產能運作。
B2911C 可讓您執行以下操作:
是德科技 B2912C 精密源測單元(SMU)是一款緊湊、經濟實惠的雙通道 SMU,可精確輸出與測量電壓及電流。儀器 其四象限能力儀器 無需儀器 即可提供使用者友善的電流-電壓(I/V)測量功能。 B2912C配備4.3吋彩色顯示幕,可呈現圖形化或數值化量測結果,並隨附免加購費用的電腦控制軟體以實現遠端操作。同時支援SCPI指令,能無縫整合至傳統SMU系統,確保高效測試流程的高吞吐量。
B2912C 可讓您執行以下操作:
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取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案,讓您更快達成業務目標。
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確保您的測試系統符合規格要求,並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習,快速進行量測。
下載 Keysight 軟體,或將您的軟體更新至最新版本。
電源量測設備 透過提供精確的電壓與電流源、高功率輸出能力及進階 機制電源量測設備 高功率應用。這些特性確保對電力電子元件、電池及高功率半導體裝置進行精準且安全的測試。
這些特性使SMU成為高功率半導體測試、汽車與航太電子、儲能系統及再生能源研究領域不可或缺的元件,在這些領域中,對高功率裝置的精確控制與測量是基礎。
電源量測設備 SMU)透過整合高解析度量測能力、低雜訊設計及進階 強化技術,確保精準的低電流量測。此設計可實現精確偵測低至飛安級(fA)範圍的電流。
低電流測量在半導體漏電測試、奈米科技研究、光電二極體特性分析及材料科學等應用領域中至關重要。
為實現此精準度,SMU 需:
這些特性使SMU成為從事低功耗電子設備、生物醫學感測器及超高靈敏度電子元件研究的工程師不可或缺的工具。它們確保了精確、可重複且可靠的低電流測量。
電源量測設備 SMUs)與電量計皆用於超低電流測量,但兩者在功能性、精確度及應用範圍上存在差異。
電量計是高度儀器 為測量極低電流儀器 通常可達阿托安培(aA)量級,具備極低噪聲與超高輸入阻抗(典型值>10⁴⁴歐姆)。這使其成為皮安培級漏電流測試、離子束實驗及超靈敏光電二極體特性分析等應用的理想選擇。 然而,電量計通常不具備供電能力,意味著它們只能測量電氣訊號,而無法主動控制訊號。
相較之下,微型測量單元(SMU)同時具備電源供應與量測功能,能以卓越的低電流靈敏度(通常達飛安級(fA)範圍)實現精確的電流-電壓(IV)特性分析。這使其在半導體測試、低功耗感測器開發及材料研究等應用領域展現高度多功能性。
現代化分流器採用低噪聲設計、三軸屏蔽技術及高解析度類比數位轉換器,以實現低電流測量的高精度。由於具備超低輸入偏置電流與降噪技術,電量計在極低電流量級仍能提供卓越的靈敏度。
因此,對於同時需要電流源與電流測量功能的應用,小型電機(SMU)是首選方案;而當電流測量極致精確度成為首要需求時,電流計則成為理想之選。
電源量測設備 SMU)是LED與雷射二極體特性基礎 。其提供精確的電流與電壓控制、準確的IV量測,以及保護機制,以確保這些光電元件的可靠測試。
LED與雷射二極體需進行電流控制測試,因其光學輸出與電氣性能高度依賴施加電流。電源管理單元(SMU)以電流源模式運作,在施加精確穩定電流的同時,測量產生的電壓(正向電壓Vf)與光輸出特性。此操作使工程師得以繪製IV曲線、判定閾值電壓並評估效率。
對於雷射二極體,SMU可協助識別關鍵參數,例如雷射閾值電流、斜率效率及功率穩定性。進階 亦支援脈衝測試功能,能防止過度自熱效應改變二極體特性,使其特別適用於高功率LED與雷射二極體的檢測。
此外,SMU配備合規電壓設定功能,可保護精密半導體材料免受過壓損壞。其低噪聲性能、高速測量能力及四象限操作特性,使其成為顯示器、光通訊裝置與高效照明系統研發過程中,進行研發測試、生產驗收及可靠性分析的理想選擇。
源測量單元(SMU)中高解析度測量(如飛安級(fA)與納伏級(nV)精度)的重要性,在於其能精確表徵超低電流與電壓水準。進階 、半導體測試及材料研究至關重要。
許多現代裝置,例如奈米材料、低功耗半導體、感測器以及對漏電流敏感的元件,都需要在極微弱的訊號水準下進行精確的電氣特性分析。
例如在半導體測試領域,精確測量晶體管與二極體中的亞奈安培級漏電流,有助於評估其可靠性與效能。在材料科學領域,高解析度測量技術使研究人員能分析石墨烯、碳奈米管及薄膜材料的電學特性——這些材料的微小訊號變化至關重要。
光電探測器、微機電系統(MEMS)及生物醫學感測器同樣需要超低電流測量以確保功能性與精準度。若缺乏此類高精度儀器 傳統儀器 標準萬用電錶或電源供應器可能引入雜訊或測量誤差,導致分析結果失準。