- 개요
- 모든 모델
- 지원
벤치탑 SMU에서 최고 성능
키사이트 Pro 소스 측정 장치는 초고정밀 측정 및 고속 과도 현상 분석에 이상적인 당사의 가장 진보되고 최고 성능의 모델입니다. 당사의 Pro SMU는 6.5디지트 소스 분해능, 초고속 샘플링, 그리고 벤치탑 SMU 중 최고 측정 정확도를 제공하여 고급 R&D, 전력 전자 및 나노 재료 연구 분야에서 전력 소모가 많은 디바이스를 테스트하기 위한 실제 조건 시뮬레이션에 이상적입니다. 당사의 인기 있는 구성 중 하나를 선택하거나 귀하의 애플리케이션에 특화된 구성을 선택하십시오.
높은 소스 분해능
6.5디지트 분해능은 고정밀 측정을 가능하게 하며, 이는 민감한 디바이스를 테스트하고 낮은 레벨의 신호를 정확하고 반복 가능하게 캡처하는 데 핵심입니다.
초고속 샘플링
10 µs 간격으로 100 kSa/s 샘플링을 통해 빠른 과도 현상을 캡처하여 정확한 데이터를 보장하고 고속 스위칭 디바이스에서 이벤트 누락을 방지합니다.
롤 뷰 모드
SMU 측정값의 실시간 스크롤 그래프를 제공하여 연속 모니터링, 느린 변화 또는 발생하는 디바이스 동작 진단에 이상적입니다.
고용량 드라이브 모드
커패시터, 긴 케이블 또는 전력 디바이스와 같은 고용량 부하에 오실레이션이나 지연 없이 안정적인 전압 또는 전류 소싱을 가능하게 합니다.
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Source resolution
6.5 digits
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최소 전류 측정 분해능
10 fA
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Number of channels
1 ~ 2
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Pulse output
Yes
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출력당 최대 전압
210 V
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출력당 최대 전류
3.0 A DC / 10.5 A pulse
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Maximum sample rate
100 kSa/s
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Minimum sampling interval
10 µs
가장 인기 있는 구성
SM3 클래스 벤치탑 소스 측정 장치, 단일 채널, 10 fA 분해능
SM3 클래스 벤치탑 소스 측정 장치, 듀얼 채널, 10 fA 분해능
서비스 및 지원
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
KeysightCare 구독자로서 향상된 서비스를 경험하고 전담 기술 지원 및 더 많은 혜택을 받으세요.
테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
자주 묻는 질문
소스 측정 장치는 정밀한 전압 및 전류 소싱, 고전력 출력 기능, 고급 보호 메커니즘을 제공하여 고전력 애플리케이션을 처리합니다. 이러한 기능은 전력 전자 장치, 배터리 및 고전력 반도체 디바이스의 정확하고 안전한 테스트를 보장합니다.
- 많은 고전력 SMU는 종종 수백 볼트 및 수십 암페어에 이르는 넓은 전압 및 전류 범위를 지원합니다. 이를 통해 전력 트랜지스터(IGBT, MOSFET, SiC, GaN), DC-DC 컨버터, 태양 전지 및 배터리 팩을 테스트할 수 있습니다.
- 또한 4사분면 작동을 통합하여 전력을 소싱하고 싱크할 수 있습니다. 이 기능은 배터리 충전 및 방전 또는 양방향 전력 디바이스 테스트와 같은 실제 작동 조건을 시뮬레이션하는 데 중요합니다.
- 과도한 전력 손실 및 DUT 손상을 방지하기 위해 고전력 SMU에는 전압과 전류가 사전 정의된 안전 임계값을 초과하지 않도록 보장하는 컴플라이언스 제한이 포함됩니다.
- 또한 많은 SMU는 펄스 측정 기능을 제공하여 짧은 시간 동안 고전력 펄스를 공급할 수 있습니다. 이는 민감한 디바이스의 자체 발열 효과를 줄여주며 정확한 고전력 특성화를 달성할 수 있도록 합니다.
- 고전력 SMU는 또한 능동 냉각, 열 보호 및 프로그래밍 가능한 전원 시퀀싱을 통합하여 까다로운 조건에서도 안정적인 작동을 보장합니다.
이러한 기능은 SMU를 고전력 반도체 테스트, 자동차 및 항공우주 전자 장치, 에너지 저장 시스템 및 신재생 에너지 연구에서 필수적인 장비로 만듭니다. 이러한 분야에서는 고전력 디바이스의 정밀한 제어 및 측정이 필수적입니다.
SMU(Source Measure Unit)는 고해상도 측정 기능, 저노이즈 설계 및 고급 감도 향상 기술을 통합하여 정밀한 저전류 측정을 보장합니다. 이를 통해 펨토암페어(fA) 범위까지의 전류를 정확하게 감지할 수 있습니다.
저전류 측정은 반도체 누설 테스트, 나노기술 연구, 포토다이오드 특성화 및 재료 과학과 같은 애플리케이션에서 중요합니다.
이러한 정밀도를 달성하기 위해 SMU는 다음을 수행합니다.
- 저노이즈, 고이득 전위계를 활용하여 극히 작은 전류에서 판독값에 영향을 미칠 수 있는 간섭 및 열 드리프트를 최소화합니다.
- 여러 측정 범위를 갖춘 고해상도 아날로그-디지털 변환기(ADC)를 특징으로 하며 최적의 정확도를 위해 가장 민감한 범위로 자동 전환됩니다.
- 저역 통과 및 이동 평균 필터와 같은 고급 필터링 기술을 통합하여 전자기 간섭(EMI) 및 전력선 변동을 포함한 환경 소스에서 발생하는 외부 노이즈를 줄입니다.
- 가딩 및 트라이액셜 연결을 포함하여 초저전류 측정 시 누설 전류를 제거하고 절연을 개선하는 데 도움이 됩니다.
- 낮은 부하 전압(가상 접지) 기술을 적용하여 민감한 측정의 무결성을 유지하고 테스트 리드 전체에 걸쳐 최소한의 전압 강하를 보장합니다.
- 드리프트 및 배경 전류를 보정하기 위해 제로 체크 및 오프셋 보상을 사용하여 정확도를 더욱 향상시킵니다.
이러한 기능은 SMU를 저전력 전자 장치, 생체 의료 센서 및 초고감도 전자 부품을 다루는 연구원 및 엔지니어에게 필수적인 도구로 만듭니다. 이들은 정밀하고 반복 가능하며 신뢰할 수 있는 저전류 측정을 보장합니다.
SMU(Source Measure Unit)와 전위계는 모두 초저전류 측정에 사용되지만 기능, 정확도 및 적용 범위에서 차이가 있습니다.
전위계는 극히 낮은 전류를 측정하기 위해 특별히 설계된 고도로 전문화된 장비로, 종종 아토암페어(aA) 범위까지 측정하며, 최소한의 노이즈와 극도로 높은 입력 임피던스(일반적으로 >10⁴⁴옴)를 가집니다. 이러한 특성으로 인해 피코암페어 수준의 누설 전류 테스트, 이온 빔 실험 및 초고감도 포토다이오드 특성화와 같은 애플리케이션에 이상적입니다. 그러나 전위계는 일반적으로 소싱 기능이 없으므로 전기 신호를 능동적으로 제어하는 대신 측정만 할 수 있습니다.
대조적으로, SMU는 소싱 및 측정 기능을 모두 결합하여 펨토암페어(fA) 범위에서 뛰어난 저전류 감도로 정밀한 전류-전압(IV) 특성화를 가능하게 합니다. 이러한 특성으로 인해 반도체 테스트, 저전력 센서 개발 및 재료 연구와 같은 애플리케이션에 매우 다용도로 활용됩니다.
최신 SMU는 저노이즈 설계, 트라이액셜 가딩 및 고해상도 ADC를 통합하여 저전류 측정에서 높은 정확도를 달성합니다. 전위계는 초저입력 바이어스 전류 및 노이즈 감소 기술 덕분에 가장 낮은 전류 수준에서 여전히 우수한 감도를 제공합니다.
따라서 SMU는 소싱 및 측정이 모두 필요한 애플리케이션에 선호되며, 전류 측정에서 극도의 정밀도가 주요 요구 사항인 경우에는 전위계가 이상적입니다.
SMU(Source Measure Unit)는 LED 및 레이저 다이오드 특성화에 필수적입니다. 이들은 정밀한 전류 및 전압 제어, 정확한 IV 측정 및 보호 메커니즘을 제공하여 이러한 광전자 부품의 신뢰할 수 있는 테스트를 보장합니다.
LED 및 레이저 다이오드는 전류 제어 테스트가 필요합니다. 이는 광 출력 및 전기적 성능이 인가된 전류에 크게 의존하기 때문입니다. SMU는 전류원 모드로 작동하여 정밀하고 안정적인 전류를 인가하면서 결과 전압(순방향 전압, Vf) 및 광 출력 특성을 측정합니다. 이를 통해 엔지니어는 IV 곡선을 생성하고, 문턱 전압을 결정하며, 효율을 평가할 수 있습니다.
레이저 다이오드의 경우, SMU는 레이저 문턱 전류, 기울기 효율 및 전력 안정성과 같은 주요 파라미터를 식별하는 데 도움이 됩니다. 고급 SMU는 또한 펄스 테스트를 지원하며, 이는 다이오드의 특성을 변경할 수 있는 과도한 자체 발열을 방지하여 고전력 LED 및 레이저 다이오드에 특히 유용합니다.
또한 SMU는 컴플라이언스 전압 설정을 포함하여 민감한 반도체 재료를 과전압 손상으로부터 보호합니다. 이들의 저노이즈 성능, 고속 측정 및 4사분면 작동은 디스플레이, 광통신 장치 및 고효율 조명 시스템 개발의 R&D, 생산 테스트 및 신뢰성 분석에 이상적입니다.
펨토암페어(fA) 및 나노볼트(nV) 정밀도와 같은 소스 측정 장치(SMU)의 고해상도 측정은 초저전류 및 전압 레벨을 정확하게 특성화하는 능력에 그 중요성이 있습니다. 이는 첨단 전자공학, 반도체 테스트 및 재료 연구에 매우 중요합니다.
나노 소재, 저전력 반도체, 센서 및 누설 전류에 민감한 부품과 같은 많은 최신 장치는 극히 작은 신호 레벨에서 정밀한 전기적 특성화를 요구합니다.
예를 들어, 반도체 테스트에서 트랜지스터 및 다이오드의 나노암페어 미만 누설 전류를 정확하게 측정하는 것은 신뢰성과 효율성을 판단하는 데 도움이 됩니다. 재료 과학에서는 고해상도 측정을 통해 연구원들은 작은 신호 변화가 중요한 그래핀, 탄소 나노튜브 및 박막 재료의 전기적 특성을 분석할 수 있습니다.
광검출기, MEMS 및 생체 의료 센서 또한 기능성과 정확성을 보장하기 위해 초저전류 측정을 필요로 합니다. 이러한 높은 정밀도 없이는 표준 멀티미터 또는 전원 공급 장치와 같은 기존 장비가 노이즈 또는 측정 오류를 유발할 수 있으며, 이는 잘못된 분석으로 이어질 수 있습니다.