- 概要
- すべてのモデル
- サポート
ベンチトップSMUにおける最高性能
キーサイトのPro ソース・メジャー・ユニット(SMU) 当社の最も先進的で高性能なモデルソース・メジャー・ユニット(SMU) 、高精度 や高速デジタル 解析に最適ソース・メジャー・ユニット(SMU) 。 当社のPro 、6.5桁のソース分解能、超高速サンプリング、ベンチトップ の中で最高の測定精度を特徴としており、ハイレベルな研究開発、パワーエレクトロニクス、ナノ材料研究における高電力デバイス試験のための実環境条件のシミュレーションに最適です。人気の構成から選択するか、アプリケーションに合わせて専用に構成してください。
高信号源分解能
6.5桁分解能により、高精度な測定が可能になり、これは高感度デバイスのテストや低レベル信号の正確かつ再現性のある捕捉に不可欠です。
超高速サンプリング
10 µs間隔で100 kSa/sサンプリングにより高速過渡現象を捕捉し、正確なデータを確保し、高速スイッチングデバイスでのイベントの見逃しを防ぎます。
ロールビューモード
SMU測定値のリアルタイムスクロールグラフを提供し、連続モニタリング、緩やかな変化、またはデバイスの動作をリアルタイムで診断するのに最適です。
高容量駆動モード
コンデンサ、長尺ケーブル、パワーデバイスなどの高容量負荷に対して、発振や遅延なしに安定した電圧または電流供給を可能にします。
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Source resolution
6.5 digits
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最小電流測定分解能
10 fA
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Number of channels
1 ～ 2
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Pulse output
Yes
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最大出力電圧
210 V
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最大出力電流
3.0 A DC / 10.5 A pulse
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最大サンプルレート
100 kSa/s
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Minimum sampling interval
10 µs
人気の構成
SM3-class ベンチトップ ソースメジャーユニット、シングルチャネル、10 fA分解能
SM3-class ベンチトップ ソースメジャーユニット、デュアルチャネル、10 fA分解能
サービスとサポート
厳選されたサポートプランと、優先的な対応および迅速なターンアラウンドタイムにより、迅速なイノベーションを実現します。
予測可能なリースベースのサブスクリプションとフルライフサイクル管理ソリューションにより、ビジネス目標をより迅速に達成できます。
KeysightCareのサブスクライバーとして、コミットされた技術サポートなど、より質の高いサービスをご体験ください。
テストシステムが仕様どおりに動作し、ローカルおよびグローバルな標準に準拠していることを保証します。
社内での講師主導トレーニングやeラーニングにより、迅速に測定を実施できます。
キーサイトのソフトウェアをダウンロードするか、最新バージョンにアップデートしてください。
よくあるご質問
ソースメジャーユニットは、高精度な電圧および電流供給、高出力機能、および高度な保護メカニズムを提供することで、高出力アプリケーションに対応します。これらの機能により、パワーエレクトロニクス、バッテリー、および高出力半導体デバイスの正確かつ安全なテストが保証されます。
- 多くの高出力SMUは、数百ボルトおよび数十アンペアに達する広い電圧および電流範囲をサポートしています。これにより、パワートランジスタ（IGBT、MOSFET、SiC、GaN）、DC-DCコンバータ、太陽電池、およびバッテリーパックのテストが可能になります。
- これらは4象限動作も組み込んでおり、電力の供給と吸収の両方を可能にします。この機能は、バッテリーの充電と放電、双方向電力デバイスのテストなど、実際の動作条件をシミュレートする上で極めて重要です。
- 過剰な電力消費とDUTの損傷を防ぐため、高出力SMUにはコンプライアンス制限が組み込まれており、電圧と電流が事前に定義された安全しきい値を超えないようにします。
- さらに、多くのSMUはパルス測定機能を備えており、短時間で高出力パルスを供給できます。これにより、高感度デバイスの自己発熱効果を低減しつつ、正確な高出力特性評価を実現します。
- 高出力SMUは、アクティブ冷却、熱保護、およびプログラマブル電源シーケンスも統合しており、これにより、要求の厳しい条件下でも安定した動作を保証します。
これらの機能により、SMUは高電力半導体テスト、車載および航空宇宙エレクトロニクス、エネルギー貯蔵システム、再生可能エネルギー研究において不可欠なツールとなります。これらの分野では、高電力デバイスの精密な制御と測定が不可欠です。
ソース／メジャー・ユニット(SMU)は、高分解能測定機能、低ノイズ設計、および高度な感度向上機能を組み込むことで、精密な低電流測定を保証します。これにより、フェムトアンペア(fA)範囲までの電流を正確に検出できます。
低電流測定は、半導体リークテスト、ナノテクノロジー研究、フォトダイオード特性評価、材料科学などのアプリケーションにおいて極めて重要です。
この精度を達成するために、SMUは：
- 低ノイズ、高ゲインの電位計を利用し、極めて微小な電流での測定値に影響を及ぼす可能性のある干渉や熱ドリフトを最小限に抑えます。
- 複数の測定レンジを備えた高分解能A/Dコンバータ（ADC）を搭載し、最適な確度を得るために最も高感度なレンジに自動的に切り替わります。
- 電磁干渉（EMI）や電力線変動などの環境源からの外部ノイズを低減するために、ローパスフィルタや移動平均フィルタなどの高度なフィルタリング技術を組み込みます。
- ガードおよびトライアキシャル接続を含み、超低電流測定時のリーク電流を排除し、絶縁性を向上させるのに役立ちます。
- 低負担電圧（仮想グランド）技術を適用して、テストリード間の電圧降下を最小限に抑えることで、高感度測定の整合性を維持します。
- ドリフトやバックグラウンド電流を補正するためにゼロチェックとオフセット補償を採用し、精度をさらに向上させます。
これらの機能により、SMUは、低電力エレクトロニクス、生体医療センサー、および超高感度電子部品を扱う研究者やエンジニアにとって不可欠なツールとなります。これらは、精密で再現性があり、信頼性の高い低電流測定を保証します。
ソース／メジャー・ユニット(SMU)とエレクトロメータはどちらも超低電流測定に使用されますが、機能、精度、およびアプリケーションの範囲が異なります。
エレクトロメータは、最小限のノイズと極めて高い入力インピーダンス（通常 >10⁴⁴ オーム）で、アトアンペア（aA）範囲までという極めて低い電流を測定するために特別に設計された、高度に専門化された計測器です。これにより、ピコアンペアレベルのリーク電流テスト、イオンビーム実験、超高感度フォトダイオード特性評価などのアプリケーションに最適です。ただし、エレクトロメータには通常、ソーシング機能がないため、電気信号を積極的に制御するのではなく、測定することしかできません。
対照的に、SMUはソース機能と測定機能の両方を組み合わせることで、優れた低電流感度（多くの場合フェムトアンペア(fA)範囲）で精密な電流-電圧(IV)特性評価を可能にします。これにより、半導体テスト、低電力センサー開発、材料研究などのアプリケーションにおいて非常に多用途なツールとなります。
最新のSMUは、低ノイズ設計、トライアキシャルガード、および高分解能ADCを組み込むことで、低電流測定において高い精度を達成します。エレクトロメータは、その超低入力バイアス電流とノイズ低減技術により、最低電流レベルにおいて依然として優れた感度を提供します。
したがって、SMUはソース機能と測定機能の両方を必要とするアプリケーションで好まれます。一方、エレクトロメータは電流測定における極めて高い精度が主要な要件である場合に理想的です。
ソース／メジャー・ユニット(SMU)は、LEDおよびレーザーダイオードの特性評価に不可欠です。これらは、精密な電流および電圧制御、正確なIV測定、およびこれらの光電子部品の信頼性の高いテストを保証するための保護メカニズムを提供します。
LEDおよびレーザーダイオードは、その光学出力と電気的性能が印加電流に大きく依存するため、電流制御テストを必要とします。SMUは電流ソースモードで動作し、精密で安定した電流を印加しながら、結果として生じる電圧（順方向電圧、Vf）と光出力特性を測定します。これにより、エンジニアはIVカーブを生成し、しきい値電圧を決定し、効率を評価できます。
レーザーダイオードの場合、SMUはレーザーしきい値電流、傾斜効率、電力安定性などの主要なパラメータを特定するのに役立ちます。高度なSMUはパルステストもサポートしており、ダイオードの特性を変化させる可能性のある過剰な自己発熱を防ぐため、高出力LEDやレーザーダイオードに特に有用です。
さらに、SMUは、デリケートな半導体材料を過電圧損傷から保護するためのコンプライアンス電圧設定を含んでいます。その低ノイズ性能、高速測定、および4象限動作により、ディスプレイ、光通信デバイス、および高効率照明システムの開発におけるR&D、生産テスト、および信頼性分析に理想的なツールとなります。
ソースメジャーユニット (SMU) における、フェムトアンペア (fA) やナノボルト (nV) 精度といった高分解能測定の重要性は、超低電流および電圧レベルを正確に特性評価する能力にあります。これは、先進エレクトロニクス、半導体テスト、材料研究にとって極めて重要です。
ナノ材料、低消費電力半導体、センサー、漏洩電流に敏感なコンポーネントなど、多くの最新デバイスは、極めて小さな信号レベルでの精密な電気的特性評価を必要とします。
例えば、半導体テストでは、トランジスタやダイオードにおけるサブナノアンペアのリーク電流を正確に測定することで、それらの信頼性と効率を判断するのに役立ちます。材料科学においては、高分解能測定により、微小な信号変動が重要となるグラフェン、カーボンナノチューブ、薄膜材料の電気的特性を研究者が分析できるようになります。
フォトディテクタ、MEMS、生体医療センサーも、機能性と精度を確保するために超低電流測定を必要とします。このような高精度がなければ、標準的なマルチメータや電源などの従来の測定器はノイズや測定誤差を発生させ、誤った解析につながる可能性があります。