- 概述
- 所有型號
- 支援
用於驗證緊密間隔光學通道的次皮米解析度
Keysight XP2 級波長計提供快速、準確且可追溯的密集波分多工 (DWDM) 訊號波長量測，用於校準可調諧發射器雷射。我們的波長計具有高解析度和重複率，旨在滿足研發實驗室、生產線和校準環境中對絕對波長精度要求嚴苛的需求。憑藉廣泛的波長覆蓋範圍和亞皮米解析度，Keysight 波長計確保符合國際電信聯盟 (ITU) 網格，最大限度地減少與漂移相關的誤差，並加速調諧和驗證任務。請根據您所需的波長範圍和絕對波長精度等級，選擇適合您的波長計。選擇我們熱門的配置之一，或根據您的應用配置專屬方案。
次皮米準確度
實現超精細波長解析度，絕對準確度可達 ±0.2 ppm，非常適合緊密間隔的 ITU 通道驗證和精細光譜調諧。
快速更新速率
即時波長顯示和快速量測速度，可實現閉迴路雷射調諧和高產量製造工作流程。
寬廣的波長覆蓋範圍
涵蓋 C、L 和 O 頻段的多個光學波長範圍，以支援從光通訊到光子學的多元應用。
可追溯校驗
經原廠校準符合國際標準，具備長期穩定性和低漂移，讓您對每次波長量測充滿信心。
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Wavelength range
700 nm to 1650 nm, 1270 nm to 1650 nm
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Absolute wavelength accuracy
± 0.2 ppm 至 ± 1 ppm
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Measurement cycle time
0.3 s 至 0.6 s
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Minimum resolvable line separation
5 GHz 至 15 GHz
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Best power accuracy
± 0.5 dB 至 ± 0.6 dB
最熱門配置
XP2 級波長計，支援多波長
XP2 級波長計，支援多波長
- 探索我們的光子與光學測試型錄
- 網路與資料中心解決方案型錄
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
波長計是一種高精度光學儀器，用於量測雷射光源或寬頻發射器的中心波長。它透過擷取入射光學訊號並分析其干涉圖案來運作。然後，儀器會根據此干涉圖案計算波長，通常可達到亞皮米級精確度。有些波長計還能提供功率、波長漂移和模式穩定性的即時量測。
這些工具對於雷射波長準確度、光譜穩定性和 ITU 格柵對準至關重要的應用至關重要，例如在 DWDM（密集波分多工）系統、可調諧雷射源校準和光學元件驗證中。現代波長計通常經過工廠校準，並提供國際標準追溯性，以確保長期測量準確度和信心。
波長計廣泛應用於研發和製造環境中的各種光學測試。常見的應用包括：
- 可調諧雷射校準：確保雷射光源調諧至電信、光子學或量子應用所需的正確波長。
- DWDM 通道驗證：驗證 DWDM 系統中的每個通道都符合標準化的 ITU-T 網格間距，通常具有次皮米解析度。
- 光譜調諧與驗證：在測試和校準期間量測並調整光發射器、調變器或光子積體電路 (PIC) 的輸出。
- 長期波長穩定性監測：在需要持續性能的環境中，例如計量實驗室或量子實驗，追蹤雷射隨時間的漂移。
在這些使用案例中，波長計可確保頻譜精確度、系統合規性和裝置重複性，這對於高速光通訊和光子系統至關重要。
選擇波長計時，最佳選擇取決於您需要多精確、多快速地特性化您的光源。以下是需要考量的最重要規格，以及每個規格如何影響光學測試與量測環境中的效能：
- 波長範圍：確保儀表支援您的雷射或光學光源運作的頻譜範圍。對於電信和資料通訊測試，請尋找涵蓋 C 頻段 (1530–1565 nm)、L 頻段 (1565–1625 nm)，甚至整個 1260–1650 nm 視窗的產品。如果您在其他區域工作，請確保該型號包含這些波長。選擇正確的範圍可確保與您的光源完全相容，並避免訊號截波或未檢測到的漂移。
- 波長準確度：對於高密度 WDM 系統、窄線寬雷射或需要符合 ITU-grid 標準的應用，高準確度至關重要。更高的準確度可改善系統的對準、調諧精度和長期可靠性。
- 量測週期時間: 這也稱為量測速度或更新速率，決定儀器提供新波長讀數的速度。在動態測試環境或自動化生產線上，更快的週期時間可實現即時調諧、雷射鎖定或製程中合格/不合格檢查，而不會減慢您的工作流程。
- 可解析線路分離度：這定義了儀器區分兩條緊密間隔光譜線的能力。具有精細可解析線路分離度的波長計可以區分緊密間隔的 DWDM 通道，或檢測多線雷射源中的多種模式。這對於光譜純度分析和調變訊號驗證尤其重要。
- 功率準確度: 許多波長計也會報告絕對光功率。這可確保有意義的功率讀數，尤其是在回饋控制迴路中整合波長和功率資料時。
- 校準可追溯性：對於任何需要符合性、可追溯性或長期量測信心的應用，選擇具有可追溯至 NIST 等國際標準的原廠校準儀表至關重要。可追溯的校準支援品質保證、法規稽核以及跨團隊或實驗室的量測重複性。
透過評估這些核心規格，您可以選擇一款波長計，使其精確符合您的光學測試要求，無論您是從事電信系統整合、可調諧雷射開發、量子光學，還是光子元件的生產測試。