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Inspector SC2 預矽側通道分析

在流片前偵測、定位並緩解側通道洩漏。 Inspector SC2 流片前側通道分析功能可協助硬體安全、設計和驗證團隊在設計和開發階段，於矽晶片製造前（流片前）找出側通道漏洞。傳統的流片後測試只能判斷已製造的裝置是否存在洩漏，而 Inspector SC2 流片前側通道分析則可提供設計中洩漏源頭的可視性，協助團隊在開發生命週期的早期階段找出根本原因並評估緩解策略。 透過使用測試向量和設計活動資料分析暫存器傳輸級 (RTL)、合成網路表和閘級設計，Inspector SC2 流片前側通道分析可識別哪些信號洩漏、洩漏程度、洩漏發生時間以及洩漏在設計中的源頭。這種可視性使團隊能夠驗證對策、比較設計替代方案，並降低在製造後發現漏洞的成本和風險。

產品影像

  • Key Features

    Pre-silicon security evaluation; Integration with existing EDA workflows; Early vulnerability detection; Design-to-security feedback; Proven inspector methodologies; Reduced redesign risk; Secure-by-design development

  • Applications

    Pre-silicon side-channel analysis, Leakage assessment, Semiconductor security evaluation, Secure chip design, Security validation, Certification preparation

  • License types

    Perpetual, Subscription

  • Functionality

    EDA integration, Simulation analysis, Leakage assessment, Root cause analysis, RTL analysis, Netlist analysis, Place-and-route analysis, Security verification

  • License options

    Floating license, USB-based portable license

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焦點訊息

Inspector SC2 流片前側通道分析可協助半導體團隊在流片前偵測並定位側通道洩漏，此時設計變更更快、成本更低且更容易實施。

Inspector 透過使用測試向量、VCD 活動檔案以及透過現有電子設計自動化 (EDA) 工作流程產生的選用功率模型，分析 RTL、合成網路表和閘級設計，以識別洩漏、衡量其嚴重性，並精確找出負責的信號和模組。透過提供可行的根本原因分析，團隊可以驗證對策、比較實施選項，並比較 RTL、合成網路表和閘級設計之間的洩漏，以識別設計流程中引入的變更。

  • 在流片前（預矽階段）偵測側通道洩漏，此時設計修改仍具可行性且符合成本效益。
  • 透過在開發週期早期識別漏洞，補充傳統的後矽測試。
  • 自動精確找出洩漏的根本原因，精確到特定的訊號、閘極和模組。
  • 使用量化洩漏指標，識別哪些訊號洩漏、洩漏量多少以及洩漏何時發生。
  • 驗證側通道對策的有效性，並比較替代實作方案。
  • 貫穿整個開發流程，分析 RTL、合成網表和閘級設計。
  • 隨著設計的演進，偵測在合成和最佳化過程中引入的洩漏。
  • 支援持續的安全驗證和迴歸測試。
  • 讓設計和驗證團隊（而不僅僅是安全專家）能夠識別並解決安全問題。
  • 使用 Python 腳本產生可自訂的報告和視覺化內容，用於內部工作流程、審查和認證活動。
  • 減少後矽測試工作、認證風險以及製造後昂貴的重新設計。
  • 評估安全權衡，同時考量效能、功耗和面積。

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