半導體

半導體晶片影像

推進半導體革命

半導體產業正經歷全球指數級成長。深入了解這個充滿活力的產業所面臨的趨勢、機會和挑戰。

加速半導體創新

物聯網 (IoT) 的興起促使半導體晶片的需求呈現指數級增長。了解 Keysight 如何協助半導體製造商在動態環境中跟上需求。

半導體晶片的特寫影像

了解半導體基礎知識

課程

如何整合多技術 RF 組件

了解 5G FR2 等頻率的毫米波 (mmWave) 設計如何因電路互連而面臨新的挑戰。
課程

PathWave 裝置建模與特性分析軟體

本次網路研討會重點介紹 Keysight PathWave 裝置建模。Keysight 提供從自動化量測到裝置模型擷取的完整端對端建模解決方案。
課程

寬能隙高功率半導體量測

瞭解先進寬能隙 (WBG) 高功率半導體量測技術。
課程

半導體參數特性分析基礎訓練 — 第 1 部分

了解半導體參數測試的基礎知識，著重於元件和製程參數，而非測試功能性產品。
課程

半導體參數特性分析基礎訓練 — 第 2 部分

了解半導體參數測試的電容測量基礎知識。本次課程涵蓋實用的電容測量問題以及如何避免常見錯誤。

探索我們的半導體解決方案。

替代影像

軟體

電路設計與模擬

提供全面的設計指導、支援非線性設計和最佳化工具，以提高良率。

硬體

基本參數測試

提供執行基本參數測試所需的廣泛量測功能。

軟體

晶圓特性分析測試

提供元件特性分析，搭配資料處理工具，適用於低頻雜訊量測。

硬體

IV 量測

提供高解析度 IV 量測和快速結果，搭配使用者友善的介面。

軟體

IP 管理

集中管理 IP 資料、專案協調和協作，並從建立到發佈提供控制與追溯能力。
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如何最大化功率放大器的效率與線性度

最大化功率放大器 (PA) 線性度，同時保持效率，需要一種稱為數位預失真 (DPD) 的線性化技術。為提供最佳性能，DPD 技術需要寬頻、經校準的向量信號產生與信號分析。

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如何評估 LED 的 IV 特性

執行高性能 LED 的電流與電壓特性分析時，需要產生並量測電流與電壓的功能。 了解如何僅使用電源量測設備來評估二端和三端元件的 IV 特性。

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如何測試寬禁帶半導體

寬能隙 (WGB) 半導體特性分析，需要測試靜態和動態參數以避免損耗。了解如何重複執行 WBG 裝置的 JEDEC 測試，包括開啟/關閉、切換和其他標準化測試。

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