半導体

半導体チップのイメージ

半導体革命の推進

半導体産業は世界的な急成長を遂げています。このダイナミックな業界が直面するトレンド、機会、課題について詳しくご紹介します。

半導体の技術革新を加速する

モノのインターネット（IoT）の出現により、半導体チップの需要は飛躍的に伸びています。Keysightが、ダイナミックな環境において半導体メーカーが需要に対応するためにどのような支援をしているか、詳細をご覧ください。

半導体チップのクローズアップ画像

半導体の本質を学ぶ

コース

マルチテクノロジーRFアセンブリの統合方法

5G FR2のような周波数のミリ波（mmWave）設計では、回路相互接続が新たな課題に直面する。
パラメトリック
コース

デバイスのモデリングと特性評価のためのPathWave

このウェビナーでは、Keysight PathWaveデバイス・モデリングに焦点を当てます。キーサイトは、自動測定からデバイス・モデルの抽出まで、完全なエンドツーエンドのモデリング・ソリューションを提供しています。
パラメトリック
コース

ワイドバンドギャップ高出力半導体測定

先進のワイドバンドギャップ（WBG）ハイパワー半導体測定技術を学ぶ。
半導体のイメージ
コース

半導体パラメトリック特性評価 基礎トレーニング - パート1

機能製品のテストではなく、デバイスとプロセスパラメータに焦点を当てた半導体パラメトリックテストの基礎について学びます。
パラメトリック図解
コース

半導体パラメトリック特性評価 基礎トレーニング - パート2

半導体パラメトリック・テストのための静電容量測定の基礎を学びます。このセッションでは、実践的な静電容量測定の問題点と、よくある間違いを避ける方法について説明します。
半導体のクローズアップ

半導体ソリューション

オルト画像

ソフトウェア

回路設計とシミュレーション

包括的な設計ガイダンス、非線形設計のサポート、歩留まり向上のための最適化ツールを提供します。

ハードウェア

基本的パラメトリック検定

基本的なパラメトリック試験に必要な幅広い測定機能を提供。

ソフトウェア

ウェハ特性検査

低周波ノイズ測定用のデータハンドリングツールによるデバイス特性評価を提供。

ハードウェア

IV測定

ユーザーフレンドリーなインターフェースで、高解像度の点滴測定と迅速な結果を提供します。

ソフトウェア

IPマネジメント

IPデータ、プロジェクト調整、コラボレーションを一元化し、作成から公開までの管理とトレーサビリティを実現。
製造オペレーションの改善方法

製造オペレーションの改善方法

製造オペレーションの改善には、製品の品質、製造プロセス、設備に関するリアルタイムの洞察を理解することが必要です。

さらに詳しく キーサイトアロー

複数の量子 キュービットにバイアスをかける方法

複数の量子 キュービットにバイアスをかける方法

量子コンピューティングの開発において、複数の量子ビットを制御するために、DCバイアス電圧を供給するには、量子ビットのデコヒーレンスを防止して、量子ビットの完全性を維持する必要があります。

さらに詳しく キーサイトアロー

アクセスポイントなしで受動部品をテストする方法

アクセスポイントなしで受動部品をテストする方法

テストポイントのない高密度PCBA上の受動部品をテストするには、部品をクラスタにグループ分けし、正確なテストのためにインピーダンスを計算する必要があります。

さらに詳しく キーサイトアロー

半導体リソース

キーサイトのエキスパートから半導体業界の動向、課題、将来について学ぶ

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キーサイトの深い専門知識と業界をリードする設計、エミュレーション、テスト・ソリューションを活用し、半導体の技術革新を加速。

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