アクセスポイントなしで受動部品をテストする方法

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テストアクセスなしでの受動コンポーネントのテスト

テストポイントが限られた高密度多層プリント基板アセンブリ(PCBA)のテストには、クラスタテスト手法が用いられます。高速データ伝送のためのインピーダンス制御と信号完全性を維持しながら、電気テストのためにPCBA上のすべてのデバイスとコンポーネントにテストアクセスを提供することは非現実的である可能性があります。この制限を克服するために、エンジニアは相互接続されたコンポーネントのクラスタをグループ化してテストでき、限られたテストリソースでより高いカバレッジを達成します。

クラスタリングプロセスでは、PCBAレイアウトの知識を持つエンジニアが、1つの基板上のコンポーネントをグループ化し、クリティカルノード間のインピーダンスなどの測定値を指定し、これらのアクティブコンポーネントとパッシブコンポーネントの測定値を特定する必要があります。これを怠ると、能動コンポーネント生じるインピーダンスによって測定値がずれるため、測定結果に矛盾が生じます。エンジニアは、自動化されたクラスタ形成とテストプラン生成を必要としています。

受動部品用自動クラスター生成ソリューション

高密度多層PCBAのテストには受動部品のクラスタ形成を効率化する自動化が必要です。Keysight i3070シリーズ7i高密度インサーキットテストシステムは、自動化された信頼性の高い受動デバイスクラスタを作成し、テストプランを生成します。このテストシステムは、Advanced Cluster Library（ACL）のアルゴリズムを活用し、効率的なクラスタ構成を実現することで、テストの質を向上させ、高精度テスト実行の高速化、生産プロセスの信頼性の向上を実現します。

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