PCBA上のLEDのテスト方法

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+ インサーキットテスター

統合テストシステムによるLED試験の効率化

インサーキットテスト段階でプリント基板アセンブリ（PCBA）上の発光ダイオード（LED）をテストするには、テストシステムにLEDアナライザを統合する必要があります。統合された試験アプローチにより、メーカーはLEDの光度、温度、その他の重要なパラメータなどの光学的および電気的特性を測定することができます。メーカーはLEDの欠陥を早期に特定できるため、迅速な修正が可能になり、製造の遅れを最小限に抑えることができます。

集積回路テスター（ICT）にLEDテストを組み込むには、多大なエンジニアリング努力が必要です。この方法には、カスタムフィクスチャー、テストプロセス、専用ストレージを組み込むことが含まれます。適切なLEDを確実に配置し、アナライザーの光学ヘッドの正確なアライメントを確保するためには、専用の治具が不可欠です。テスト・エンジニアは、テストする基板やLEDの種類に応じて、自動テストや解析実行するためのテスト・シーケンサーを必要とします。

統合製造LEDテストソリューション

LEDテストの生産ライン効率を高めるには、インサーキット・テスターにLEDアナライザーを統合する必要があります。しかし、このようなサードパーティのデバイスを統合するには、多くの場合、複雑で時間のかかる作業が必要です。Keysight i3070シリーズ7iとKeysight i7090は、LEDアナライザをテスタに統合するための標準化されたソリューション提供します。OpenTap LEDテスト・プラグインとさまざまなLEDテスト・ライセンスを搭載したi3070シリーズ 7iおよびi7090は、LEDテスト・プロセスを合理化し、専門家によることなく迅速なテストの作成と実行を可能にします。テストエンジニアは、これらの結果をテスターのメインインターフェースにシームレスに組み込むことができ、包括的かつ効率的な回路基板テストを実現します。

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