접근 지점 없이 수동 소자를 테스트하는 방법

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테스트 액세스 없이 수동 부품 테스트

제한된 테스트 포인트로 고밀도 다층 인쇄 회로 기판 어셈블리(PCBA)를 테스트하는 것은 클러스터 테스트 방법을 포함합니다. 고속 데이터 전송을 위한 임피던스 제어 및 신호 무결성을 유지하면서 전기 테스트를 위해 PCBA의 모든 디바이스 및 부품에 테스트 액세스를 제공하는 것은 비실용적일 수 있습니다. 이러한 한계를 극복하기 위해 엔지니어는 상호 연결된 부품 클러스터를 그룹화하여 테스트함으로써 제한된 테스트 리소스로 더 높은 커버리지를 달성할 수 있습니다.

클러스터링 프로세스는 PCBA 레이아웃에 대한 지식을 가진 엔지니어가 단일 보드에 부품을 그룹화하고, 중요 노드 간의 임피던스와 같은 측정을 지정하며, 이러한 능동 및 수동 부품의 측정을 식별하도록 요구합니다. 그렇지 않으면 능동 부품에 의해 생성된 임피던스가 측정값을 이동시키므로 측정 결과에 불일치가 발생합니다. 엔지니어는 자동화된 클러스터 형성 및 테스트 계획 생성이 필요합니다.

수동 소자를 위한 자동 클러스터 생성 솔루션

고밀도 다층 PCBA 테스트에는 수동 부품의 클러스터 형성을 간소화하는 자동화된 솔루션이 필요합니다. 키사이트 i3070 Series 7i 고밀도 인서킷 테스트 시스템은 신뢰할 수 있는 수동 디바이스 클러스터를 생성하고 테스트 계획을 생성하기 위한 자동화된 솔루션을 제공합니다. 이 테스트 시스템은 Advanced Cluster Library(ACL)의 알고리즘 기능을 활용하여 향상된 테스트 정밀도, 더 빠른 테스트 실행 및 생산 프로세스의 향상된 신뢰성을 위한 효율적인 클러스터 형성을 보장합니다.

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