Comment tester les composants passifs sans points d'accès ?
Tester des composants passifs sans accès de test
Tester des circuits imprimés multicouches (PCBA) haute densité avec des points de test limités implique une méthode de test en cluster. Fournir un accès à tous les composants et dispositifs d'un PCBA pour les tests électriques peut s'avérer difficile tout en maintenant le contrôle de l'impédance et l'intégrité du signal pour une transmission de données à haut débit. Pour surmonter cette limitation, les ingénieurs peuvent regrouper des clusters de composants interconnectés pour les tests, obtenant ainsi une couverture plus étendue avec des ressources de test limitées.
Le processus de clustering nécessite des ingénieurs connaissant les schémas de circuits imprimés pour regrouper les composants sur une même carte, spécifier les mesures, telles que l'impédance entre les nœuds critiques, et identifier les composants actifs et passifs. À défaut, les résultats de mesure seraient incohérents, car l'impédance produite par le composant actif modifierait la valeur mesurée. Les ingénieurs ont besoin d'une formation automatisée des clusters et de la génération des plans de test.
Solution de génération de cluster automatisée pour les composants passifs
Voir la démonstration de la solution de génération de cluster automatisée pour les composants passifs
Découvrez les produits de la solution de génération de clusters automatisée pour les composants passifs
-
![]()
E9988GL Système ICT haute densité en ligne ; série 7i
Découvrez des ressources et des informations
Ressources supplémentaires pour la solution de génération de clusters automatisée
Cas d'utilisation connexes
-
![]()
En savoir plus
Comment automatiser les tests de supercondensateurs ?
Le test d'un supercondensateur sur un circuit imprimé nécessite la mesure de sa résistance série équivalente (ESR) et de sa capacité pendant le test en circuit (ICT). Découvrez comment automatiser ce processus avec une génération intelligente de programmes, une charge électronique CC et une unité de mesure de la source dans un ICT pour accélérer le test des supercondensateurs.
En savoir plus
-
![]()
En savoir plus
Comment tester les LED sur les PCBA
Le test d'assemblages de cartes de circuits imprimés comportant des LED au cours de la phase de test en circuit nécessite l'intégration d'un analyseur de LED dans le testeur. Découvrez comment réaliser des tests de LED sur un testeur en circuit à l'aide d'un système et d'une analyse automatisés.
En savoir plus
-
![]()
En savoir plus
Comment effectuer des mesures de faible courant sur les cartes de circuits imprimés ?
Le test des courants faibles dans les PCBA au cours de l'étape de test en circuit nécessite une planification complexe des tests et l'incorporation d'instruments de test externes. Découvrez comment intégrer des unités de mesure de la source dans les testeurs en circuit afin de simplifier le processus de test.
En savoir plus
Contactez l'un de nos experts
Besoin d'aide pour trouver la solution qui vous convient ?