Como testar componentes passivos sem pontos de acesso

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Teste de componentes passivos sem acesso de teste

O teste de conjuntos de placas de circuito impresso multicamadas de alta densidade (PCBAs) com pontos de teste limitados envolve um método de teste de cluster. Fornecer acesso de teste a todos os dispositivos e componentes em um PCBA para testes elétricos pode ser impraticável e, ao mesmo tempo, manter o controle de impedância e a integridade do sinal para transmissão de dados em alta velocidade. Para superar essa limitação, os engenheiros podem agrupar clusters de componentes interconectados para testes, obtendo maior cobertura com recursos de teste limitados.

O processo de agrupamento exige que os engenheiros com conhecimento dos layouts de PCBA agrupem os componentes em uma única placa, especifiquem as medições, como a impedância entre os nós críticos, e identifiquem a medição desses componentes ativos e passivos. Se isso não for feito, haverá inconsistências nos resultados das medições, pois a impedância produzida pelo componente ativo mudará o valor medido. Os engenheiros precisam de formação automatizada de clusters e geração de planos de teste.

Solução automatizada de geração de clusters para componentes passivos

Os testes de PCBAs multicamadas e de alta densidade precisam de uma solução automatizada que agilize a formação de clusters para componentes passivos. O Sistema de Teste em Circuito de Alta Densidade Série 7i i3070 da Keysight oferece uma solução automatizada para criar clusters de dispositivos passivos confiáveis e gerar planos de teste. Esse sistema de teste aproveita o poder de um algoritmo da Advanced Cluster Library (ACL) para garantir a formação eficiente de clusters para melhorar a precisão dos testes, acelerar a execução dos testes e aumentar a confiabilidade em seus processos de produção.
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