高インピーダンスノードのショートテストを高速化する方法

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強化されたショートテストアルゴリズムによる高インピーダンスノードのテスト

プリント回路基板アセンブリ(PCBA)の電気的短絡を検査するには、絶縁されたノード間の抵抗を測定する必要があります。この方法では、回路に小電流を流し、その結果生じるノード間のインピーダンスをチェックする。しかし、高インピーダンスのノードの短絡検査では、微小なインピーダンスの変化を検出するために、より精密な測定方法が必要となります。

高インピーダンスノードのショートテストでは、正確な測定のために電圧または電流を安定させるのに長時間を要します。ノードの感度が高いため、信号安定性の維持と外部影響の最小化がテストプロセスにおいて極めて重要です。高インピーダンスノードにおける長時間のショートテスト期間は、大量生産には適していません。

強化されたショートテストソリューション

高インピーダンスノードの電気的ショートテストでは、正確な測定のために電圧または電流を安定させるのに長時間を要します。キーサイトi3070高密度インサーキットテスト(ICT)システムは、テスト時間を大幅に短縮する強化された電気的ショートテストアルゴリズムを搭載しています。高インピーダンスノードのショートを特定するために必要な反復回数を大幅に削減することで、より効率的なテストサイクルが実現されます。この進歩により、テストの完全性を損なうことなくテスト時間が短縮されます。この強化されたテストアルゴリズムは、検出フェーズと分離フェーズの2つのフェーズで構成されています。新しいアルゴリズムは、ラボテストでスループットを30%から50%向上させました。

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