Come accelerare i test brevi per i nodi ad alta impedenza

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Tester in-circuito serie 7i i3070
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Test dei nodi ad alta impedenza con un algoritmo di short test migliorato

Per verificare la presenza di cortocircuiti elettrici nei circuiti stampati (PCBA) è necessario misurare la resistenza tra i nodi isolati. Questo metodo consiste nell'iniettare una piccola corrente attraverso il circuito e controllare l'impedenza risultante tra i nodi. Tuttavia, il test dei cortocircuiti per i nodi ad alta impedenza richiede un metodo di misura molto più preciso per rilevare le minime variazioni di impedenza.

I test brevi dei nodi ad alta impedenza richiedono un tempo prolungato per stabilizzare la tensione o la corrente e ottenere una lettura accurata. A causa della maggiore sensibilità del nodo, il mantenimento della stabilità del segnale e la riduzione al minimo delle influenze esterne sono aspetti cruciali del processo di collaudo. La breve durata del test dei nodi ad alta impedenza non è in linea con la produzione in grandi volumi.

Soluzione migliorata per i test brevi

Il test dei nodi ad alta impedenza per un cortocircuito elettrico richiede un tempo più lungo per stabilizzare la tensione o la corrente per una lettura accurata. Il sistema Keysight i3070 High-Density In-Circuit Test (ICT) è dotato di un algoritmo di test dei cortocircuiti elettrici potenziato che migliora significativamente i tempi di test. Un ciclo di test più efficiente è ottenuto riducendo notevolmente il numero di iterazioni necessarie per identificare i cortocircuiti nei nodi ad alta impedenza. Questo progresso riduce i tempi di prova senza compromettere l'integrità del test. L'algoritmo di test migliorato comprende due fasi: quella di rilevamento e quella di isolamento. Il nuovo algoritmo ha migliorato il throughput del 30-50% nei test di laboratorio.
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