主な特長

4080 シリーズ:パラメトリック・テスト・システム・トータル・ソリューション

Keysight 4080シリーズは、基本的なパラメトリックテストに必要な測定機能を幅広く提供します。 Vth、Ids、Idoff、CoxなどのDC測定やキャパシタンス測定を簡単に行うことができます。 4080シリーズは、DC測定用の3種類のSMU (Source Monitor Unit) に対応しています。 また、デジタル電圧計(DVM)、スペクトラム・アナライザ、 LCDメータなど、いくつもの測定器オプションにより、さらに強化した測定機能を提供します。

  • SPECSと4070シリーズとの互換性を備えた業界標準のパラメトリック・テスト・システム
  • 非同期および同期パラレルテスト機能によりスループットを最大50 %向上
  • より柔軟な構成: 標準低電流と超低電流(12~48ピン)
  • SEMI規格によるテストの自動化を促進
  • Linux OSによるコストの削減
  • サービスとサポートを含む総合的なパラメトリック・テスト・ソリューション

メインストリーム半導体技術の測定課題に対応する設計

4080シリーズは、お客様のテスト要件に合わせて2つのモデルを提供しています。 4082A パラメトリック・テスト・システムは、成熟した高度な半導体デバイスに不可欠なパラメトリックテストをカバーし、同期および非同期のパラレルテスト機能を備えています。 4082F フラッシュ・メモリ・セル・パラメトリック・テスト・システムは、高電圧半導体パルス発生器(HV-SPGU)モジュールと81150Aパルス発生器をサポートし、フラッシュ・メモリ・セル技術の特性評価 を行うことができます。

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主な仕様

最大SPGU出力チャネル数
n/a
最大測定ピン数
n/a
最小電流測定分解能
n/a
最小電流測定分解能
500 nV
Parallel Parametric Test Capability
n/a
最大SPGU出力チャネル数
最大測定ピン数
最小電流測定分解能
最小電流測定分解能
Parallel Parametric Test Capability
n/a
n/a
n/a
500 nV
n/a
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追加機能:
n/a
最大測定ピン数:
n/a
最大SPGU出力チャネル数:
n/a
最小電流測定分解能:
n/a
最小電流測定分解能:
500 nV
Parallel Parametric Test Capability:
n/a
タイプ:
Parametric Test Solution
半導体パラメトリック・テスト・ソリューション

4082A —業界標準のパラメトリック・テスト・システム

4070シリーズテスターをサービスおよびサポート契約なしでご使用の場合、4080シリーズにアップグレードすることにより、プロフェッショナルなサービスおよびサポートをご利用いただける機会となります。

4070/SPECSプログラムの互換性とデータの相関性を保証し、4070シリーズテスターからの移行を最も簡単かつ容易に実行します。

  • ソース・モニター・ユニットは、ミディアムパワー(MPSMU)、ハイパワー(HPSMU)、高解像度(HRSMU)から選択可能
  • VMT(Virtual Multiple Testhead)ソフトウェアにより、同期および非同期のパラレルテストによるスループットの向上が可能
  • 1 fA/0.1 μVの測定分解能
  • HS-CMU (高速キャパシタンス測定ユニット)のオプション
  • リング発振器測定オプション

4082Fーフラッシュ・メモリ・セル・パラメトリック・テスト・システム

NANDフラッシュ・メモリ・セルの書き込み/消去特性を評価するためのフル・パラメトリック・テスト機能、SPGU(Semiconductor Pulse Geneation Unit)メインフレームおよび高電圧SPGUモジュール。

  • 最大10チャネルのパルスSPGUを内蔵し、高速および高精度な測定
  • キーサイト81150Aにより、最大2チャネルの低価格なパルスジェネレータを選択可能
4082Fフラッシュ・メモリ・セル・パラメトリック・テスト・システム

パラメトリック・テスト・システムの注目のリソース

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