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  • パラメトリックテストシステム

4080 シリーズ・パラメトリック・テスト・システム

4080シリーズ・パラメトリック・テスト・システムは、幅広い測定機能を提供する業界標準のフル・パラメトリック・テスト・システムです。

製品画像

  • 最大測定ピン数

    48

  • 最小電流測定分解能

    2 µV

  • 追加機能

    SPGU output

  • 最小電流測定分解能

    1 fA

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ハイライト

4080 シリーズ：パラメトリック・テスト・システム・トータル・ソリューション

Keysight 4080シリーズは、基本的なパラメトリックテストに必要な測定機能を幅広く提供します。 Vth、Ids、Idoff、CoxなどのDC測定やキャパシタンス測定を簡単に行うことができます。 4080シリーズは、DC測定用の3種類のSMU (Source Monitor Unit) に対応しています。 また、デジタル電圧計(DVM)、スペクトラム・アナライザ、 LCDメータなど、いくつかの測定器オプションにより、さらに強化した測定機能を提供します。

  • SPECSと4070シリーズとの互換性を備えた業界標準のパラメトリック・テスト・システム
  • 非同期および同期パラレルテスト機能によりスループットを最大50 %向上
  • より柔軟な構成： 標準低電流と超低電流（12～48ピン）
  • SEMI規格によるテストの自動化を促進
  • Linux OSによるコストの削減
  • サービスとサポートを含む総合的なパラメトリック・テスト・ソリューション

サービスとサポート