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SPRACHE
Parametrische Testlösungen: Wafer-Level-Testsysteme zur parametrischen Validierung
Modell: N9100A
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Die parametrischen Testsysteme der Serie 4080 sind der Branchenstandard für vollparametrische Testsysteme und bieten ein breites Spektrum an Messmöglichkeiten.
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Maximum number of measurement pins
48
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Minimum voltage measurement resolution
2 µV
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Additional features
SPGU output
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Minimum current measurement resolution
1 fA
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