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4080 시리즈 파라메트릭 테스트 시스템
고급 병렬 테스트 기능, 고속 커패시턴스 측정 옵션, SEMI 표준 등을 특징으로 하는 고처리량 파라메트릭 테스트 시스템
주요 특징
4080 시리즈: 파라메트릭 테스트 시스템 토털 솔루션
키사이트 4080 시리즈는 기본 파라메트릭 테스트에 필요한 광범위한 측정 기능을 제공합니다. Vth, Ids, Idoff, Cox 등과 같은 DC 및 커패시턴스 측정을 쉽게 수행할 수 있습니다. 4080 시리즈는 DC 측정을 위한 세 가지 유형의 SMU(Source Monitor Unit)를 지원합니다. 디지털 볼트미터(DVM), 스펙트럼 분석기 및 LCD 미터와 같은 여러 가지 다른 계측 옵션이 측정 역량을 높여줍니다.
- SPECS 및 4070 시리즈 호환성을 갖춘 업계 표준 파라메트릭 테스트 시스템
- 비동기 및 동기화 병렬 테스트 기능으로 스루풋 최대 50% 개선
- 보다 유연한 구성: 표준 저전류 및 초저전류(12 ~ 48핀)
- SEMI 표준으로 테스트 자동화 지원
- Linux OS로 비용 감소
- 서비스 및 지원을 포함하는 완전 통합형 파라메트릭 테스트 솔루션
메인스트림 반도체 기술의 측정 과제를 충족하도록 설계
4080 시리즈는 필요한 테스트에 맞게 구성할 수 있는 두 가지 모델을 제공합니다. 4082A 파라메트릭 테스트 시스템은 안정적인 첨단 반도체 디바이스에 대한 필수 파라메트릭 테스트가 가능하며 동기 및 비동기 병렬 테스트 기능을 제공합니다. 4082F 플래시 메모리 셀 파라메트릭 테스트 시스템은 고전압 반도체 펄스 생성기(HV-SPGU) 모듈과 81150A 펄스 생성기를 지원해 플래시 메모리 셀 기술 특성화가 가능합니다.
주요 사양

4082A — 산업 표준 파라메트릭 테스트 시스템
서비스 및 지원 계약 없이 4070 시리즈 테스터를 사용하고 있는 경우, 4080 시리즈로 업그레이드하여 전문 서비스와 지원을 받을 수 있습니다.
4070/SPECS 프로그램 호환성과 데이터 상관관계를 보장하면서 4070 시리즈 테스터에서 가장 간단하고 가장 쉬운 마이그레이션 방법
- 중간 전력(MPSMU), 고전력(HPSMU), 고해상도(HRSMU) 중에서 소스 모니터 장치 선택 가능
- 동기 및 비동기 병렬 테스트는 VMT(Virtual Multiple Testhead ) 소프트웨어를 통해 처리량을 개선할 수 있습니다.
- 1 fA 및 0.1 uV의 측정 분해능
- 선택적인 HS-CMU(High-Speed Capacitance Measurement Unit)
- 선택적인 링 오실레이터 측정
4082F - 플래시 메모리 셀 파라메트릭 테스트 시스템
풀 파라메트릭 테스트 기능과 SPGU(Semiconductor Pulse Geneation Unit) 메인프레임 및 고전압 SPGU 모듈이 제공되므로 NAND 플래시 메모리 셀의 쓰기/삭제 특성 평가가 가능합니다.
- 최대 10채널까지 내장된 펄스 SPGU를 사용한 빠르고 정밀한 측정
- 최대 2채널까지 키사이트 81150A와 함께 저가형 펄스 생성기를 선택할 수 있습니다.

4080 시리즈 파라메트릭 테스트 시스템의 역량 확대
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