주요 특징

4080 시리즈: 파라메트릭 테스트 시스템 토털 솔루션

키사이트 4080 시리즈는 기본 파라메트릭 테스트에 필요한 광범위한 측정 기능을 제공합니다. Vth, Ids, Idoff, Cox 등과 같은 DC 및 커패시턴스 측정을 쉽게 수행할 수 있습니다. 4080 시리즈는 DC 측정을 위한 세 가지 유형의 SMU(Source Monitor Unit)를 지원합니다. 디지털 볼트미터(DVM), 스펙트럼 분석기 및 LCD 미터와 같은 여러 가지 다른 계측 옵션이 측정 역량을 높여줍니다.

  • SPECS 및 4070 시리즈 호환성을 갖춘 업계 표준 파라메트릭 테스트 시스템
  • 비동기 및 동기화 병렬 테스트 기능으로 스루풋 최대 50% 개선
  • 보다 유연한 구성: 표준 저전류 및 초저전류(12 ~ 48핀)
  • SEMI 표준으로 테스트 자동화 지원
  • Linux OS로 비용 감소
  • 서비스 및 지원을 포함하는 완전 통합형 파라메트릭 테스트 솔루션

메인스트림 반도체 기술의 측정 과제를 충족하도록 설계

4080 시리즈는 필요한 테스트에 맞게 구성할 수 있는 두 가지 모델을 제공합니다. 4082A 파라메트릭 테스트 시스템은 안정적인 첨단 반도체 디바이스에 대한 필수 파라메트릭 테스트가 가능하며 동기 및 비동기 병렬 테스트 기능을 제공합니다. 4082F 플래시 메모리 셀 파라메트릭 테스트 시스템은 고전압 반도체 펄스 생성기(HV-SPGU) 모듈과 81150A 펄스 생성기를 지원해 플래시 메모리 셀 기술 특성화가 가능합니다. 

4080 시리즈 파라메트릭 테스터 브로셔 보기

주요 사양

최대 SPGU 출력 채널 수
N/A
최대 측정 핀 수
48
최소 전류 측정 분해능
1 fA
최소 전압 측정 분해능
2 µV
Parallel Parametric Test Capability
아니오
최대 SPGU 출력 채널 수
최대 측정 핀 수
최소 전류 측정 분해능
최소 전압 측정 분해능
Parallel Parametric Test Capability
N/A
48
1 fA
2 µV
아니오
더 보기
추가 기능:
SPGU output
폼 팩터 :
N/A
최대 측정 핀 수:
48
최대 SPGU 출력 채널 수:
N/A
최소 전류 측정 분해능:
1 fA
최소 전압 측정 분해능:
2 µV
Parallel Parametric Test Capability:
아니오
유형:
Parametric Test Solution
반도체 파라메트릭 테스트 솔루션

4082A — 산업 표준 파라메트릭 테스트 시스템

서비스 및 지원 계약 없이 4070 시리즈 테스터를 사용하고 있는 경우, 4080 시리즈로 업그레이드하여 전문 서비스와 지원을 받을 수 있습니다. 

4070/SPECS 프로그램 호환성과 데이터 상관관계를 보장하면서 4070 시리즈 테스터에서 가장 간단하고 가장 쉬운 마이그레이션 방법

  • 중간 전력(MPSMU), 고전력(HPSMU), 고해상도(HRSMU) 중에서 소스 모니터 장치 선택 가능
  • 동기 및 비동기 병렬 테스트는 VMT(Virtual Multiple Testhead ) 소프트웨어를 통해 처리량을 개선할 수 있습니다.
  • 1 fA 및 0.1 uV의 측정 분해능
  • 선택적인 HS-CMU(High-Speed Capacitance Measurement Unit)
  • 선택적인 링 오실레이터 측정

4082F - 플래시 메모리 셀 파라메트릭 테스트 시스템

풀 파라메트릭 테스트 기능과 SPGU(Semiconductor Pulse Geneation Unit) 메인프레임 및 고전압 SPGU 모듈이 제공되므로 NAND 플래시 메모리 셀의 쓰기/삭제 특성 평가가 가능합니다.

  • 최대 10채널까지 내장된 펄스 SPGU를 사용한 빠르고 정밀한 측정
  • 최대 2채널까지 키사이트 81150A와 함께 저가형 펄스 생성기를 선택할 수 있습니다.
4082F 플래시 메모리 셀 파라메트릭 테스트 시스템

특집 리소스: 파라메트릭 테스트 시스템

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