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LINGUA
Soluzioni di test parametrici Sistemi di test a livello di wafer per la convalida parametrica
Modello: N9100A
prev
- Panoramica
- Opzioni
- Accessori
- Software
- Supporto
Sistemi di test parametrici serie 4080
I sistemi di test parametrici della serie 4080 sono sistemi di test parametrici completi standard del settore che offrono un'ampia gamma di funzionalità di misurazione.
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Maximum number of measurement pins
48
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Minimum voltage measurement resolution
2 µV
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Additional features
SPGU output
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Minimum current measurement resolution
1 fA
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Punti salienti
Serie 4080: Soluzione completa per sistemi di test parametrici
La serie Keysight 4080 offre un'ampia gamma di funzionalità di misurazione necessarie per i test parametrici fondamentali. È possibile eseguire facilmente misurazioni CC e di capacità quali Vth, Ids, Idoff e Cox, solo per citarne alcune. La serie 4080 supporta tre tipi di SMU (Source Monitor Unit) per la misurazione CC. Diverse altre opzioni strumentali, come un voltmetro digitale (DVM), un analizzatore di spettro e un misuratore LCD, offrono funzionalità di misurazione avanzate.
- Sistema di test parametrico standard del settore con compatibilità SPECS e serie 4070
- Aumenta la produttività fino al 50% con funzionalità di test paralleli asincroni e sincroni
- Configurazioni più flessibili: standard a bassa corrente e ultra bassa corrente (da 12 a 48 pin)
- Facilitare l'automazione dei test con gli standard SEMI
- Costi inferiori con il sistema operativo Linux
- Soluzione di test parametrica totalmente integrata con assistenza e supporto
Servizi e assistenza
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