Sistemas de pruebas paramétricas serie 4080

Los sistemas de pruebas paramétricas de la serie 4080 son el sistema de pruebas paramétricas completo estándar del sector y ofrecen una amplia gama de capacidades de medición.

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  • Maximum number of measurement pins

    48

  • Minimum voltage measurement resolution

    2 µV

  • Additional features

    SPGU output

  • Minimum current measurement resolution

    1 fA

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Serie 4080: Solución integral para sistemas de pruebas paramétricas

La serie 4080 de Keysight ofrece una amplia gama de capacidades de medición necesarias para las pruebas paramétricas fundamentales. Puede realizar fácilmente mediciones de CC y capacitancia, como Vth, Ids, Idoff y Cox, por nombrar solo algunas. La serie 4080 admite tres tipos de SMU (unidad de monitorización de fuente) para mediciones de CC. Otras opciones de instrumentos, como un voltímetro digital (DVM), un analizador de espectro y un medidor LCD, proporcionan capacidades de medición mejoradas.

  • Sistema de pruebas paramétricas estándar del sector compatible con SPECS y la serie 4070.
  • Aumente el rendimiento hasta un 50 % con la capacidad de pruebas paralelas asíncronas y síncronas.
  • Configuraciones más flexibles: corriente baja estándar y corriente ultrabaja (de 12 a 48 pines).
  • Facilite la automatización de pruebas con los estándares SEMI.
  • Menor coste con el sistema operativo Linux
  • Solución de pruebas paramétricas totalmente integrada con servicio y asistencia técnica.