Column Control DTX
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如何量測射頻相位雜訊

信號分析儀
+ 信號分析儀

透過先進的量測方法,將射頻相位雜訊最佳化

量測相位雜訊,有助於將射頻傳輸中的窄通道通訊最佳化。 不穩定的振盪器會衍生相位雜訊,因此時域中會出現抖動。 相位雜訊會影響信號品質,並增加通訊鏈路中的錯誤率。 不同於其他信號雜訊,在頻域中量測相位雜訊的成效最好。

目前最常用的 3 種相位雜訊量測技術為:直接頻譜、檢相器,以及雙通道交互關聯。 直接頻譜技術使用頻譜/信號分析儀等儀器,來量測寬頻信號的頻譜能量,但因振幅雜訊與相位雜訊很近似,因此要進行準確量測並不容易。 在處理進階應用時,採用專屬檢相器和雙通道交互關聯技術的專用型相位雜訊分析儀,是您的最佳選擇。 這兩種技術都可處理基頻信號,而且需要降頻器。

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射頻相位雜訊量測解決方案

射頻相位雜訊量測解決方案

您需使用專用的相位雜訊儀器,來量測射頻和微波頻率相位雜訊。 是德科技射頻相位雜訊量測解決方案,結合使用 Keysight N5511A 相位雜訊測試系統、Keysight E5055A SSA-X 信號源,以及 Keysight E5053A 微波降頻器,可提供超低的雜訊底線,讓您能進行準確的相位雜訊量測。 可量測低至 kT(-177 dBm/Hz)的絕對和殘餘相位雜訊。
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