如何為垂直腔面發射雷射器裝置執行LIV測試

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執行具備窄脈衝電流輸出的 LIV 測試。

垂直腔面發射雷射 (VCSEL) 元件的光電流電壓 (LIV) 測試需要精確控制注入電流 (I) 和光輸出功率 (L) 的量測。測試過程涉及系統性地改變電流、測量對應的光輸出，並記錄所施加的電壓 (V)。測試工程師可以使用源量測單元 (SMU) 提供可編程電流源，以對 VCSEL 施加各種電流。他們還需要高速光電偵測器來擷取發射光，並精確測量其功率。工程師可以繪製這些數據點來建立 LIV 曲線，從而詳細了解 VCSEL 在不同操作條件下的性能特性。

主要挑戰在於進行測試，以減輕自熱對二極體的影響並確保準確的量測結果。溫度變化顯著影響雷射二極體的行為。隨著溫度升高，雷射效率往往會降低。測試工程師需要更窄的脈衝輸出能力來抑制自熱效應，以及高速取樣率以擷取快速且極窄的電流/電壓脈衝，從而驗證動態特性。此外，在雷射二極體 (LD) 脈衝發光期間，也需要同步量測光電偵測器 (PD) 電流。這需要在量測軟體和 SMU 中對 LD 和 PD 之間進行精確的時序控制。

窄脈衝 LIV 測試解決方案

VCSEL 裝置特性分析需要一種解決方案，能夠減輕自熱對二極體的影響，確保量測結果準確。Keysight 窄脈衝 LIV 測試解決方案是一個全方位解決方案，可讓工程師在各種操作條件下進行深入的 LIV 測試，尤其是在超低電流和電壓位準下。此解決方案在精巧的 1U 機架空間中提供 20 個 SMU 通道。它整合了脈衝產生器和數位化器，無需多個儀器，顯著簡化了測試流程。隨附的 IV 曲線量測軟體提供快速、免程式設計的測試執行。
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