- 概述
- 所有型號
- 支援
適用於下一代光學裝置的高頻 S 參數深入分析
Keysight 光波元件分析儀 (LCA) 可執行經過校準的 S 參數量測，用於特性化光學和光子元件。這些解決方案結合了高頻寬向量網路分析儀和光學轉換器，以量測光學裝置中的頻率相關響應，讓您在性能驗證期間獲得更深入的洞察。LCA 無需手動校準，並在溫度、波長和偏振變化下提供穩定、可重複的結果。請根據您所需的類型、最大頻率和光纖模式來選擇所需的 LCA，以驗證您的調變器、光子積體電路 (PIC) 和其他下一代光學元件。您可選擇我們的熱門配置之一，或根據您的應用配置專屬的 LCA。
可追溯校驗
使用符合業界標準的校驗工具，消除手動光學校驗，以更可靠地確保 S 參數量測準確度。
高頻特性分析
支援高達 110 GHz 的電光量測，這對於在 1.6T 設計中擷取高速裝置行為至關重要。
VNA 整合
基於 Keysight 向量網路分析儀 (VNA) 平台打造，以實現簡易配置，並為電氣和光學應用提供共用使用者介面。
被動與 主動支援
專為特性分析被動和主動元件（例如光學調變器和光子積體電路）而設計，可支援多樣化的測試需求。
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Type
Lightwave Component Analyzer, Lightwave Transmitter Analyzer Bundle, Lightwave Detector
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Maximum frequency
67 GHz to 220 GHz
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Fiber mode
Single-mode, Single-mode and multimode
最熱門配置
XP1 級光波元件分析儀，光波偵測器
XP1 級光波元件分析儀
- 探索我們的光子與光學測試型錄
- 晶圓和晶片級光學測試方法
- 相干光學元件測試實現 1.2 Terabit 應用
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
光波元件分析儀是一種專用測試系統，它結合了向量網路分析儀 (VNA) 的高速性能與精密的光電 (O/E) 和電光 (E/O) 轉換模組。這種整合可在寬頻率範圍內對光學和光子裝置進行校準的 S 參數測量。
LCA 測量調變器、光子積體電路 (PIC)、電光開關和其他光纖元件的頻率相關行為，提供驗證訊號完整性、插入損耗、回波損耗和頻寬所需的洞察力，無論是在研究還是製造環境中。
透過分析元件如何隨頻率調變或傳輸高速信號，LCA 可協助工程師確保新一代光學裝置符合 400G、800G 和 1.6T 網路等高速通訊系統的性能規格。
Keysight LCA 旨在支援對各種光學和光子元件（從簡單的被動裝置到複雜的高速調變器）的測試。您可以量測：
- 被動元件，例如光纖、連接器、分光器和波導，可透過量測插入損耗、回波損耗和其他線性 S 參數來進行測試。
- 透過量測頻寬、頻率響應和阻抗匹配，來測試包括電光調變器、光子積體電路、光發射器和收發器子組件等主動元件。
LCA 貫穿整個產品開發週期，從早期研發驗證到高產量製造測試，用於特性分析相干光學、矽光子和下一代資料通訊中使用的元件。
LCA 透過整合高頻寬 E/O 和 O/E 轉換器，將 VNA 的高精度量測能力擴展到光學領域。Keysight 的 LCA 解決方案支援高達 110 GHz 的電光 S 參數量測，讓您能夠分析超高速通訊系統中光學元件的完整頻率響應。這對於捕捉僅在高頻下出現的訊號衰減、反射和損耗行為至關重要。
透過使用經過校準且可追溯的測試設定，LCA 可確保電氣和光學路徑的量測準確度，協助工程師最佳化調變器、PIC 和其他先進光子元件的設計，以在 112 Gb/s、224 Gb/s 及更高資料速率下達到最佳效能。
首先，請考量您的應用所需的頻率範圍。Keysight LCA 支援高達 110 GHz 的量測。此外，還需考量您正在測試的元件類型（主動式與被動式）、是否需要電光測試或僅電氣測試，以及可追溯校準和統包整合對您的工作流程是否重要。
Keysight 的應用專家能協助您找出最符合特定測試需求的解決方案。您的應用需求將決定您需要哪種網路分析儀和光學轉換器，而我們的專家將協助您選擇合適的解決方案套件。